第一篇：XRD測(cè)試X射線衍射檢測(cè)可以來找我們

XRD測(cè)試X射線衍射檢測(cè)可以來找我們

XRD叫X射線衍射。用于物相分析，結(jié)晶度，全譜擬合，晶粒大小，晶胞參數(shù)，應(yīng)力應(yīng)變等也是可以用它來分析的。

針對(duì)XRD的檢測(cè)，樣品要求為：固體粉末，均勻干燥；塊體，金屬及薄膜樣品：需要加工出一平整的表面等。

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第二篇：x射線衍射的原理及可以解決的問題

x射線衍射的原理及可以解決的問題

瀏覽次數(shù)：1730次懸賞分：10 | 解決時(shí)間：2009-10-26 12:23 | 提問者：明天過后200811

要寫讀書報(bào)告，想知道X射線衍射的原理以及可以解決的問題。要詳細(xì)點(diǎn)的，別太籠統(tǒng)。謝謝！

X射線衍射原理及應(yīng)用介紹

特征X射線及其衍射 X射線是一種波長(zhǎng)很短(約為20～0.06 nm)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對(duì)應(yīng)的具有特定波長(zhǎng)的X射線，稱為特征（或標(biāo)識(shí)）X射線?？紤]到X射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子間的距離(10^(-8)cm)相近，1912年德國(guó)物理學(xué)家勞厄(M.von Laue)提出一個(gè)重要的科學(xué)預(yù)見：晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即當(dāng)一束 X射線通過晶體時(shí)將會(huì)發(fā)生衍射；衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上增強(qiáng)、而在其它方向上減弱；分析在照相底片上獲得的衍射花樣，便可確定晶體結(jié)構(gòu)。這一預(yù)見隨后為實(shí)驗(yàn)所驗(yàn)證。1913年英國(guó)物理學(xué)家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上,不僅成功地測(cè)定了NaCl、KCl等的晶體結(jié)構(gòu),并提出了作為晶體衍射基礎(chǔ)的著名公式——布拉格定律：

2d sinθ=nλ，式中，λ為X射線的波長(zhǎng)，衍射的級(jí)數(shù)n為任何正整數(shù)。

當(dāng)X射線以掠角θ(入射角的余角，又稱為布拉格角)入射到某一具有d點(diǎn)陣平面間距的原子面上時(shí),在滿足布拉格方程時(shí)，會(huì)在反射方向上獲得一組因疊加而加強(qiáng)的衍射線。

應(yīng)用：

1、當(dāng)X射線波長(zhǎng)λ已知時(shí)(選用固定波長(zhǎng)的特征X射線)，采用細(xì)粉末或細(xì)粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格條件的反射面得到反射。測(cè)出θ后，利用布拉格公式即可確定點(diǎn)陣平面間距d、晶胞大小和晶胞類型;

2、利用X射線結(jié)構(gòu)分析中的粉末法或德拜-謝樂(Debye—Scherrer)法的理論基礎(chǔ)，測(cè)定衍射線的強(qiáng)度,就可進(jìn)一步確定晶胞內(nèi)原子的排布。

3、而在測(cè)定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動(dòng)（即θ不變）,以輻射線束的波長(zhǎng)λ作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格條件,故選用連續(xù)X射線束。再把結(jié)構(gòu)已知晶體（稱為分析晶體）用來作測(cè)定，則在獲得其衍射線方向θ后,便可計(jì)算X射線的波長(zhǎng)λ，從而判定產(chǎn)生特征X射線的元素。這便是X射線譜術(shù),可用于分析金屬和合金的成分。

4、X射線衍射在金屬學(xué)中的應(yīng)用

X射線衍射現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)后，很快被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)，出現(xiàn)了許多具有重大意義的結(jié)果。如韋斯特格倫（A.Westgren）(1922年)證明α、β和δ鐵都是體心立方結(jié)構(gòu)，β-Fe并不是一種新相;而鐵中的α—→γ相轉(zhuǎn)變實(shí)質(zhì)上是由體心立方晶體轉(zhuǎn)變?yōu)槊嫘牧⒎骄w，從而最終否定了β-Fe硬化理論。隨后,在用X射線測(cè)定眾多金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)的同時(shí)，在相圖測(cè)定以及在固態(tài)相變和范性形變研究等領(lǐng)域中均取得了豐碩的成果。如對(duì)超點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的發(fā)現(xiàn)，推動(dòng)了對(duì)合金中有序無序轉(zhuǎn)變的研究；對(duì)馬氏體相變晶體學(xué)的測(cè)定，確定了馬氏體和奧氏體的取向關(guān)系；對(duì)鋁銅合金脫溶的研究等等。目前 X射線衍射(包括X射線散射)已經(jīng)成為研究晶體物質(zhì)和某些非晶態(tài)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的有效方法。

在金屬中的主要應(yīng)用有以下方面：

（1）物相分析 是X射線衍射在金屬中用得最多的方面，又分為定性分析和定量分析。定性分析是把對(duì)待測(cè)材料測(cè)得的點(diǎn)陣平面間距及衍射強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)物相的衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，以確定材料中存在的物相；定量分析則根據(jù)衍射花樣的強(qiáng)度，確定待測(cè)材料中各相的比例含量。

（2）精密測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù) 常用于相圖的固態(tài)溶解度曲線的繪制。溶解度的變化往往引起點(diǎn)陣常數(shù)的變化；當(dāng)達(dá)到溶解限后，溶質(zhì)的繼續(xù)增加引起新相的析出，不再引起點(diǎn)陣常數(shù)的變化。這個(gè)轉(zhuǎn)折點(diǎn)即為溶解限。另外點(diǎn)陣常數(shù)的精密測(cè)定可獲得單位晶胞原子數(shù)，從而可確定固溶體類型；還可以計(jì)算出密度、膨脹系數(shù)等有用的物理常數(shù)。

（3）取向分析 包括測(cè)定單晶取向和多晶的結(jié)構(gòu)（如擇優(yōu)取向）。測(cè)定硅鋼片的取向就是一例。另外，為研究金屬的范性形變過程，如孿生、滑移、滑移面的轉(zhuǎn)動(dòng)等，也與取向的測(cè)定有關(guān)。

（4）晶粒（嵌鑲塊）大小和微觀應(yīng)力的測(cè)定 由衍射花樣的形狀和強(qiáng)度可計(jì)算晶粒和微應(yīng)力的大小。在形變和熱處理過程中這兩者有明顯變化，它直接影響材料的性能。

（5）宏觀應(yīng)力的測(cè)定 宏觀殘留應(yīng)力的方向和大小，直接影響機(jī)器零件的使用壽命。利用測(cè)定點(diǎn)陣平面在不同方向上的間距的改變，可計(jì)算出殘留應(yīng)力的大小和方向。

（6）對(duì)晶體結(jié)構(gòu)不完整性的研究 包括對(duì)層錯(cuò)、位錯(cuò)、原子靜態(tài)或動(dòng)態(tài)地偏離平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（見晶體缺陷）。

（7）合金相變 包括脫溶、有序無序轉(zhuǎn)變、母相新相的晶體學(xué)關(guān)系，等等。

（8）結(jié)構(gòu)分析 對(duì)新發(fā)現(xiàn)的合金相進(jìn)行測(cè)定，確定點(diǎn)陣類型、點(diǎn)陣參數(shù)、對(duì)稱性、原子位置等晶體學(xué)數(shù)據(jù)。

（9）液態(tài)金屬和非晶態(tài)金屬 研究非晶態(tài)金屬和液態(tài)金屬結(jié)構(gòu)，如測(cè)定近程序參量、配位數(shù)等。

（10）特殊狀態(tài)下的分析 在高溫、低溫和瞬時(shí)的動(dòng)態(tài)分析。

此外，小角度散射用于研究電子濃度不均勻區(qū)的形狀和大小,X射線形貌術(shù)用于研究近完整晶體中的缺陷如位錯(cuò)線等，也得到了重視。

X射線分析的新發(fā)展

金屬X射線分析由于設(shè)備和技術(shù)的普及已逐步變成金屬研究和材料測(cè)試的常規(guī)方法。早期多用照相法，這種方法費(fèi)時(shí)較長(zhǎng)，強(qiáng)度測(cè)量的精確度低。50年代初問世的計(jì)數(shù)器衍射儀法具有快速、強(qiáng)度測(cè)量準(zhǔn)確，并可配備計(jì)算機(jī)控制等優(yōu)點(diǎn)，已經(jīng)得到廣泛的應(yīng)用。但使用單色器的照相法在微量樣品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。從70年代以來，隨著高強(qiáng)度X射線源（包括超高強(qiáng)度的旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極X射線發(fā)生器、電子同步加速輻射,高壓脈沖X射線源）和高靈敏度探測(cè)器的出現(xiàn)以及電子計(jì)算機(jī)分析的應(yīng)用，使金屬 X射線學(xué)獲得新的推動(dòng)力。這些新技術(shù)的結(jié)合，不僅大大加快分析速度，提高精度，而且可以進(jìn)行瞬時(shí)的動(dòng)態(tài)觀察以及對(duì)更為微弱或精細(xì)效應(yīng)的研究。

5、X射線物相分析

X射線照射晶體物相產(chǎn)生一套特定的粉未衍射圖譜或數(shù)據(jù)D-I值。其中D-I與晶胞形狀和大小有關(guān)，相對(duì)強(qiáng)度I/I0，與質(zhì)點(diǎn)的種類和位置有關(guān)。

與人的手指紋相似，每種晶體物相都有自己獨(dú)特的XPD譜。不同物相物質(zhì)即使混在一起，它們各自的特征衍射信息也會(huì)獨(dú)立出現(xiàn)，互不干擾。據(jù)此可以把任意純凈的或混合的晶體樣品進(jìn)行定性或定量分析。

（1）

X射線物相定性分析

粉未X射線物相定性分析無須知曉物質(zhì)晶格常數(shù)和晶體結(jié)構(gòu)，只須把實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)與（粉未衍射標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)合會(huì)）發(fā)行的PDF卡片上的標(biāo)準(zhǔn)值核對(duì)，就可進(jìn)行鑒定。

當(dāng)然這是對(duì)那些被測(cè)試研究收集到卡片集中的晶相物質(zhì)而言的，卡片記載的解析結(jié)果都可引用。

《粉末衍射卡片集》是目前收集最豐富的多晶體衍射數(shù)據(jù)集，包括無機(jī)化合物，有機(jī)化合物，礦物質(zhì)，金屬和合金等。1969年美國(guó)材料測(cè)試協(xié)會(huì)與英、法、加等多國(guó)相關(guān)協(xié)會(huì)聯(lián)合組成粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)聯(lián)合會(huì)，收集整理、編輯出版PDF卡片,每年達(dá)到無機(jī)相各一組,每組1500-2000張不等.1967年前后,多晶粉未衍射譜的電子計(jì)示示機(jī)檢索程序和數(shù)據(jù)庫(kù)相繼推出.日本理學(xué)公司衍射射儀即安裝6個(gè)檢索程序(1)含947個(gè)相的程序;(2)含2716個(gè)相的常用相程序;(3)含3549個(gè)相的礦物程序;(4)含6000個(gè)相的金屬和合金程序;(5)含31799個(gè)相的無機(jī)相程序(6)含11378個(gè)相的有機(jī)相程序.每張片尾記錄一個(gè)物相。

（2）多相物質(zhì)定性分析

測(cè)XRD譜，得d值及相對(duì)強(qiáng)度后查索引，得卡片號(hào)碼后查到卡片，在±1%誤差范圍內(nèi)若解全部數(shù)據(jù)符合，則可判斷該物質(zhì)就是卡片所載物相，其晶體結(jié)構(gòu)及有關(guān)性能也由卡片而知。這是單一物相定性分析。

多相混合物質(zhì)的XRD譜是各物相XRD譜的迭加，某一相的譜線位置和強(qiáng)度不因其它物相的存在而改變，除非兩相間物質(zhì)吸收系數(shù)差異較大會(huì)互相影響到衍射強(qiáng)度。固熔體的XRD譜則以主晶相的XRD為主。

已知物相組分的多相混合物，或者先嘗試假設(shè)各物相組分，它們的XRD譜解析相對(duì)要容易得多。分別查出這些單一物相的已知標(biāo)準(zhǔn)衍射數(shù)據(jù)，d值和強(qiáng)度，將它們綜合到一起，就可以得到核實(shí)其有無。如鋼鐵中的δ相（馬氏體或鐵素體）γ相（奧氏體）和碳化物多相。

完全未知的多相混合物，應(yīng)設(shè)法從復(fù)相數(shù)據(jù)中先查核確定一相，再對(duì)余下的數(shù)據(jù)進(jìn)行查對(duì)。每查出一相就減少一定難度，直至全部解決。當(dāng)然對(duì)于完全未知多相樣品可以了解其來源、用途、物性等推測(cè)其組分；通過測(cè)試其原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜，IR、化學(xué)分析、X射線熒光分析等測(cè)定其物相的化學(xué)成分，推測(cè)可能存在的物相。查索到時(shí)，知道組分名稱的用字順?biāo)饕椋褂胐值索引前，要先將全部衍射強(qiáng)度歸一化，然后分別用一強(qiáng)線、二強(qiáng)線各種組合、三強(qiáng)線各種組合…聯(lián)合查找直至查出第一主相。標(biāo)記其d值，I/I1值。把多余的d值，I/I1值再重新歸一化，包括與第一主相d值相同的多余強(qiáng)度值。繼續(xù)查找確定第二主相，直至全部物相逐一被查找出來并核對(duì)正確無誤。遇到?jīng)]被PDF卡收錄的物相時(shí)，需按未知物相程序解析指認(rèn)。

物相定性分析中追求數(shù)據(jù)吻合程度時(shí)，（1）d值比I/I1值更重要，更優(yōu)先。因?yàn)閐測(cè)試精度高，重現(xiàn)性好；而強(qiáng)度受純度（影響分辨率）、結(jié)晶度（影響峰形）樣品細(xì)微度（同Q值時(shí)吸收不同），輻射源波長(zhǎng)（同d值，角因子不同）、樣品制備方法（有無擇優(yōu)取向等）、測(cè)試方法（照相法或衍射儀法）等因素影響，不易固定。（2）低角度衍射線比高角度線重要。對(duì)不同晶體而言低角度線不易重迭，而高角度線易重迭或被干擾。（3）強(qiáng)線比弱線重要。尤其要重視強(qiáng)度較大的大d值線。

（3）X射線物相定量分析

基本原理和分析

在X射線物相定性分析基礎(chǔ)上的定量分析是根據(jù)樣品中某一物相的衍射線積分強(qiáng)度正變化于其含量。不能嚴(yán)格正比例的原因是樣品也產(chǎn)生吸收。對(duì)經(jīng)過吸收校正后的的衍射線強(qiáng)度進(jìn)行計(jì)算可確定物相的含量。這種物相定量分析是其它方法，如元素分析、成分組分分析等所不能替代的。

6、結(jié)晶度的XRD測(cè)定

7、高分子結(jié)晶體的X射線衍射研究

第三篇：材料測(cè)試技術(shù)X射線衍射分析習(xí)題(第二到第七章)

材料X射線衍射分析（第二章到第七章）習(xí)題

1．試述布拉格方程2dHKLsinθ=λ中各參數(shù)的含義，以及該方程有哪些應(yīng)用? 2．解釋“干涉面指數(shù)（HKL）”與“晶面指數(shù)（hkl）”之間的區(qū)別。若某種立方晶體的（111）晶面間距為0.1506 nm，而X射線波長(zhǎng)為0.0724 nm，問有多少干涉面參與反射，它們分別在什么角度上反射？

3．管電壓為35千伏所產(chǎn)生的連續(xù)X射線，以θ=60°的掠射角照射到a=0.543 nm的立方晶系的晶體（100）和（531）晶面上，該兩晶面分別最多能產(chǎn)生多少級(jí)衍射，最高和最低兩級(jí)的射線波長(zhǎng)分別為多少？（假設(shè)波長(zhǎng)大于0.2 nm的射線已被空氣吸收）4．如果入射線平行于a=0.543 nm的立方晶體之[出（220）干涉面的反射線的波長(zhǎng)。

5．何為晶帶與晶帶定律? 說明同一晶帶的各晶面的倒易點(diǎn)陣平面的作圖方法, 并指出該倒易點(diǎn)陣平面(uvw)*與晶帶軸[uvw]之間的位向關(guān)系。6．下列哪些晶面屬于[111]晶帶？

（111）、（231）、（231）、（211）、（101）、（101）、（133），為什么？ 7．證明（）、（）、（）、（01）晶面屬于[111]晶帶。

00]晶向，試用厄瓦爾德圖解法求8．試計(jì)算（311）及（132）的共同晶帶軸。

9．用CuKα射線（λ=0.154nm）照射Cu樣品，已知Cu的點(diǎn)陣常數(shù) =0.361nm，試用布拉格方程求其（200）反射的θ角。

10． 用Cu Kα(=0.154 nm)射線照射點(diǎn)陣常數(shù)a = 0.286 nm的α-Fe多晶體, 試用厄瓦爾德作圖法求(110)晶面發(fā)生反射的θ角.11． 當(dāng)AuCu3固溶體完全有序化時(shí), Au原子占據(jù)立方晶胞的頂角, 而Cu原子占據(jù)各個(gè)面的中心, 試計(jì)算其結(jié)構(gòu)因數(shù)FHKL

12． NaCl單位晶胞中, 含有4個(gè)氯原子和4個(gè)鈉原子, 其坐標(biāo)為: Na : 0,0,0;1/2,1/2, 0;1/2,0,1/2;0,1/2,1/2。Cl：1/2,1/2,1/2;0,0,1/2;0,1/2,0;1/2,0,0。計(jì)算結(jié)構(gòu)因子，確定可反射晶面的指數(shù)。

13． 有哪三種最基本的X射線衍射實(shí)驗(yàn)方法? 概述它們的主要區(qū)別。

14． 試說明粉末多晶體某一｛hkl｝晶面族的衍射線積分強(qiáng)度公式中各參數(shù)的物理意義，分析其對(duì)衍射強(qiáng)度的影響關(guān)系。

15． 原子散射因數(shù)的物理意義是什么？某元素的原子散射因數(shù)與其原子序數(shù)有何關(guān)系？

16． 多重性因數(shù)的物理意義是什么？某立方晶系晶體，其{100}的多重性因數(shù)是多

少？如該晶體轉(zhuǎn)變?yōu)樗姆骄?，這個(gè)晶面族的多重性因數(shù)會(huì)發(fā)生什么變化？為什么？

17． 在極射赤面投影圖中，設(shè)投影基圓的垂直直徑上下兩端分別記為N（北）極和S（南）極，水平直徑左右兩端分別為W（西）極和E（東）極，每個(gè)投影點(diǎn)的位置可根據(jù)其極距ρ和經(jīng)度φ坐標(biāo)（ρ，φ）繪出，此時(shí)N極的極距ρ＝0°，經(jīng)度φ＝0°；E極的ρ＝90°，經(jīng)度φ＝0°。

① 將透明紙放在吳氏網(wǎng)上，在紙上標(biāo)出A（50°，90°）、B（50°，30°）、C（80°，30°）三個(gè)極點(diǎn)，并求三個(gè)極點(diǎn)所代表的晶面每?jī)蓚€(gè)晶面之間的夾角。

② 令坐標(biāo)為（70°，40°）的極點(diǎn)A，圍繞NS軸（從N向S看）逆時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)100°，求該極點(diǎn)的新位置A1及其坐標(biāo)（ρ1，φ1）。若極點(diǎn)A圍繞一根坐標(biāo)為（100°，120°）的傾斜軸順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)60°，求該極點(diǎn)的新位置A2及其坐標(biāo)（ρ2，φ2）。18． 何謂勞厄法，說明勞厄法測(cè)定晶體取向的基本步驟。19． 試用厄瓦爾德圖解法說明勞厄衍射花樣的成相原理.20． 簡(jiǎn)述勞厄衍射花樣的指數(shù)化過程。

21． 用連續(xù)X射線（陽(yáng)極靶為鎢靶，管電壓40KV）拍攝了一張鋁單晶體試樣的透射勞厄相，已知aAl = 0.40494 nm,底片距晶體5cm，入射線與晶體的（111）面之間的夾角θ= 4o，試問：(1)（111）反射面所形成的勞厄斑點(diǎn)與透射斑點(diǎn)（底片中心）的距離是多少？（2）（111）衍射斑點(diǎn)中包含哪些反射級(jí)？

22． 為什么勞厄相中低指數(shù)晶面的勞厄斑點(diǎn)強(qiáng)度一般比高指數(shù)的要強(qiáng)？ 23． 勞厄法中采用什么陽(yáng)極靶比較經(jīng)濟(jì)，為什么？

24． 粉末衍射方法可分為哪兩種? 試述它們的主要特點(diǎn).25． 粉末多晶體X射線衍射實(shí)驗(yàn)的衍射儀法和德拜法在入射光束、試樣形狀、試樣吸收以及衍射線記錄等方面與有何不同？ 26． 簡(jiǎn)述粉末法成像原理.27． 采用Cu Kα(=0.154 nm)射線和德拜相機(jī)得到某多晶體試樣(立方晶系)的衍射花樣, 其8根線條的θ角分別為: 12.54°, 14.48°, 20.70°, 24.25°, 25.70°, 30.04°, 33.04°, 34.02°, 求出各線條對(duì)應(yīng)的晶面間距和指數(shù), 并計(jì)算點(diǎn)陣常數(shù).28． 用Cu Kα(=0.154 nm)射線攝得鎢的德拜相，從照片上測(cè)得由低角度數(shù)起的前4對(duì)線的θ角分別為20.3, 29.2, 36.7, 43.6。已知鎢具有體心立方點(diǎn)陣，點(diǎn)陣常數(shù)a=0.3164 nm, 試計(jì)算各線條的相對(duì)強(qiáng)度(可不計(jì)溫度因子和吸收因子).29． 試比較粉末多晶體衍射圓錐與單晶體的勞厄衍射圓錐有何不同? 30． 何謂德拜相機(jī)的分辨本領(lǐng)? 它與θ角、相機(jī)半徑R、X射線波長(zhǎng)λ之間有何關(guān)系？

31． 用Cu Kα(=0.154 nm)射線和Cr Kα(=0.229 nm)射線分別攝取α-Fe多晶體(體心立方點(diǎn)陣, 點(diǎn)陣常數(shù)a = 0.286 nm)的衍射花樣, 問兩者中將各有幾對(duì)衍射線出現(xiàn)? 并寫出其指數(shù).32． 粉末多晶體衍射線的積分強(qiáng)度與哪些參數(shù)有關(guān)? 33． 簡(jiǎn)述X射線物相定性分析的基本步驟.34． 請(qǐng)說明物相定性分析所用的三種索引(字母索引、哈氏索引、芬克索引)的特點(diǎn)。35． 簡(jiǎn)述X射線物相定量分析的基本原理。

36． 試比較物相定量分析的外標(biāo)法、內(nèi)標(biāo)（曲線）法、K值法、參比強(qiáng)度法和直接比較法的應(yīng)用特點(diǎn)。

37． 試述用K值法進(jìn)行物相定量分析的過程。

38． 某種黃銅試樣為α+β雙相組織，采用Cu Kα射線照射試樣測(cè)得其α相的200衍射線強(qiáng)度為484（任意單位），在相同條件下對(duì)一個(gè)純?chǔ)料嘣嚇訙y(cè)得200衍射線的強(qiáng)度為760（任意單位），據(jù)此求試樣中α相的含量。假設(shè)α相和β相對(duì)Cu Kα射線的質(zhì)量吸收系數(shù)近似相等。39． 一塊淬火碳鋼（含1.0 %C）, 用金相方法檢驗(yàn)未見碳化物，在衍射儀上用Co K（=0.179nm）輻射測(cè)得奧氏體(點(diǎn)陣參數(shù)a=0.360nm)的311線條的積分強(qiáng)度為2.325, α而馬氏體(點(diǎn)陣參數(shù)a=0.2866nm)，的112線條強(qiáng)度為16.32, 試計(jì)算鋼中殘余奧氏體含量.40． 用X射線法測(cè)定宏觀內(nèi)應(yīng)力的原理是什么? 41． 對(duì)于一個(gè)承受上、下方向純拉伸的多晶試樣，若以x射線垂直于拉伸軸照射，問在其背射照片上，衍射環(huán)的形狀是什么樣的?為什么? 42． 在通用的衍射儀上，用固定ψ法測(cè)試銅帶的應(yīng)力，采用311衍射線，CuKα輻射．2θ0＝136.74°。已知測(cè)量值為：

ψ(°)5 15 25 35 45 2θ(°)137.70 137.62 137.51 137.44 137.37 2請(qǐng)繪制2θ—sin ψ圖，并用圖解法和最小二乘法計(jì)算試樣的應(yīng)力值。

(銅的彈性模量E＝1.2×106N／cm2，泊松比ν＝0.38)