第一篇：三維表面形貌儀產品信息

JR25三維表面形貌儀

產品簡介：

JR25型三維表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測量儀，采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器的測量探頭可以任意旋轉，適合精密測量 不可移動樣品表面形貌，同時適合進行野外測試。產品特性: 1，采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨率 2，測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高

3，測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；

4，尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面 5，不受樣品反射率的影響 6，不受環(huán)境光的影響

7，測量簡單，樣品無需特殊處理 8，Z方向,測量范圍大：為27mm 主要技術參數：

1，掃描范圍：25×25（mm）2，掃描步長：0.1μm 3，掃描速度：20mm/s 4，Z方向測量范圍：27mm 4，Z方向測量分辨率：3nm 產品應用：

MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學元件、陶瓷和先進材料的研發(fā)

聯系人：劉蕊

010-53203403

*** 網站：004km.cn

PS50型三維表面形貌儀

產品簡介：

PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測量設備，采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器性價比高，可用于取代傳統的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。產品特性: 1，采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨率 2，測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高

3，測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；

4，尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面 5，不受樣品反射率的影響 6，不受環(huán)境光的影響

7，測量簡單，樣品無需特殊處理 8，Z方向,測量范圍大：為27mm 主要技術參數：

1，掃描范圍：50×50（mm）2，掃描步長：0.1μm 3，掃描速度：20mm/s 4，Z方向測量范圍：27mm 4，Z方向測量分辨率：2nm 產品應用：

MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學元件、陶瓷和先進材料的研發(fā)

聯系人：劉蕊

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ST400型三維表面形貌儀

產品簡介：

ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀，采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品，并具有多種選項，包含360°旋轉工作臺，原子力顯微鏡模塊，光學顯微鏡，特征區(qū)域定位等多種功能模塊。產品特性: 1，采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨率 2，測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高

3，測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；

4，尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面 5，不受樣品反射率的影響 6，不受環(huán)境光的影響

7，測量簡單，樣品無需特殊處理 8，Z方向,測量范圍大：為27mm 主要技術參數：

1，掃描范圍：150mm×150mm(最大可選600mm*600mm)2，掃描步長：0.1μm 3，掃描速度：20mm/s 4，Z方向測量范圍：27mm 4，Z方向測量分辨率：2nm 產品應用：

MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學元件、陶瓷和先進材料的研發(fā)

聯系人：劉蕊

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HS1000型三維表面形貌儀

產品簡介：

HS1000型三維表面形貌儀是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現場使用。產品特性: 1，采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨率 2，測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高

3，測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；

4，尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面 5，不受樣品反射率的影響 6，不受環(huán)境光的影響

7，測量簡單，樣品無需特殊處理 8，Z方向,測量范圍大：為27mm 主要技術參數：

1，掃描范圍：400mm×600mm(最大可選600mm*600mm)2，掃描步長：5nm 3，掃描速度：1m/s 4，Z方向測量范圍：27mm 4，Z方向測量分辨率：2nm 產品應用：

MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學元件、陶瓷和先進材料的研發(fā)

聯系人：劉蕊

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粗糙度測量儀P3

產品簡介：

P3型全自動粗糙度測量儀是一款非接觸式粗糙度測量儀，采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，符合國際標準ISO25178，用于取代傳統的接觸式探針型粗糙度測量儀。測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等任意樣品，不收材料形狀及顏色的限制。產品特性: 1.測量具有非破壞性：采用白光共聚焦技術，可獲得納米級分辨率 2.測量范圍大：15mm×15mm，無需進行圖像拼接 3.可測樣品的最大坡度：87oC 4.測量范圍廣：可測平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、拋光、粗糙樣品

5.不受環(huán)境光的影響

6.不受樣品反射率與形狀的影響

7.操作簡單：樣品無需特殊處理優(yōu)于傳統的探針技術與干涉技術形貌儀 主要技術參數：

1，掃描范圍：1×1，2×2，3×3，4×4，5×5，10×10，15×15（mm）2，掃描步長：1×1，2×2，5×5（μm）3，Z方向測量范圍：300μm 4，Z方向測量分辨率：8nm 5，Z方向測量精度：60nm 6，橫向光學分辨率：2.6μm 產品應用：

MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學元件、陶瓷和先進材料的研發(fā)

聯系人：劉蕊

010-53203403 網站：004km.cn

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