第一篇：X射線衍射儀使用管理制度

X射線衍射儀使用管理制度

一、X射線衍射儀是一種精密的測量儀器，為確保X射線衍射儀正常使用，使之更好地為教學(xué)和科研服務(wù)，特制定本制度。

二、X射線衍射儀管理操作人員必須熟悉X射線衍射儀的結(jié)構(gòu)和性能，掌握X射線衍射儀的安裝、調(diào)整、使用和維護(hù)方法。

三、X射線衍射儀管理人員必須定期對X射線衍射儀進(jìn)行維護(hù)，對X射線衍射儀的保管做到防塵、防潮、防熱、防震和防腐蝕。保持X射線衍射儀及房間的清潔；X射線衍射儀發(fā)生故障時(shí)應(yīng)立即停止使用，并向?qū)嶒?yàn)室主任報(bào)告，待檢查修復(fù)后再用。

四、每次使用前，都應(yīng)提前檢查設(shè)備的完好程度，確認(rèn)完好后才允許使用，使用結(jié)束后，使用人員須經(jīng)保管人員檢查完好并當(dāng)面填寫使用記錄后才可離去。

五、每學(xué)期結(jié)束，X射線衍射儀管理人員必須向?qū)嶒?yàn)室主任書面匯報(bào)X射線衍射儀的完好情況、存在的問題，以便在假期安排解決。

第二篇：X射線衍射儀操作規(guī)程

X射線衍射儀操作規(guī)程

1、目的 規(guī)范x射線衍射儀的操作步驟，確保檢測過程安全有效。

2、適用范圍

適用于x射線衍射儀的使用過程管理；

3、參考文件 x射線衍射儀使用說明書、《轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍射方法通則

》 JY/T 009-1996；

4、操作步驟

4.1 開機(jī)前的準(zhǔn)備

打開循環(huán)水，檢查水溫是否在20攝氏度左右，上下波動(dòng)范圍不超過3度；室內(nèi)溫度在20攝氏度左右，上下波動(dòng)范圍不超過3度；濕度小于80%；樣品放置在樣品臺(tái)正中間；

4.2 開機(jī)檢查

記錄檢查情況，填寫《儀器設(shè)備使用記錄》；預(yù)熱30分鐘，加載高壓；啟動(dòng)電腦，打開commander軟件，點(diǎn)擊init drives按鈕進(jìn)行初始化，然后點(diǎn)擊Move drives按鈕驅(qū)動(dòng)各個(gè)軸轉(zhuǎn)動(dòng)到設(shè)定的角度處；在commander軟件中將設(shè)備功率設(shè)定到額定功率，銅靶40KV，40mA；鈷靶35KV，40mA；設(shè)定2thet角的范圍（通常范圍在20°到80°）。掃描方式設(shè)定為continuous;掃描速度設(shè)定為2°/min。填寫《儀器設(shè)備使用記錄》。

4.3 開始檢測

點(diǎn)擊start按鈕開始衍射。測試完畢后將數(shù)據(jù)保存到目標(biāo)文件夾，文件名與檢測樣品名一致。檢測數(shù)據(jù)及時(shí)記入《物相定性分析項(xiàng)目檢測原始記錄》；

4.4 關(guān)機(jī)前的檢查

測試完畢后，將已測樣品放入已測區(qū)或廢樣區(qū)，以免和未測樣品混淆。點(diǎn)擊設(shè)備上high voltage按鈕，來卸載高壓；設(shè)備冷卻30分鐘，使光管冷卻到室溫。否則容易使光管氧化，縮短其使用壽命；關(guān)閉軟件，關(guān)閉電腦。點(diǎn)擊stop按鈕關(guān)閉衍射儀；關(guān)閉循環(huán)水冷機(jī)。填寫《儀器設(shè)備使用記錄》。

4.5 儀器設(shè)備狀態(tài)恢復(fù)

將已檢測樣品放入已測區(qū)，以免和未測樣品混淆；將檢測完畢的樣品臺(tái)在試驗(yàn)臺(tái)上擺放整齊；地面保持干凈；

5、注意事項(xiàng)

注意ups電源一定不能關(guān)閉，它持續(xù)給固體探測器在供電。

6、相關(guān)記錄

《儀器設(shè)備使用記錄》

《物相定性分析項(xiàng)目檢測原始記錄》

第三篇：X射線衍射儀技術(shù)指標(biāo)

X射線衍射儀技術(shù)指標(biāo)

儀器采用當(dāng)前最先進(jìn)的技術(shù)，能夠精確地對金屬和非金屬多晶樣品進(jìn)行物相定性定量分析，結(jié)晶度分析、晶胞參數(shù)計(jì)算和固溶體分析，微觀應(yīng)力及晶粒大小分析。儀器包括長壽命陶瓷X光管、X射線發(fā)生器、高精密測角儀、高靈敏度探測器、計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理軟件、相關(guān)應(yīng)用軟件和循環(huán)冷卻水裝置。

1.X射線光源

1.1.X射線發(fā)生器部分

*1.1.1 最大輸出功率：3kW 1.1.2 額定電壓：60kV *1.1.3 額定電流：80mA

1.2 X射線光管部分

1.2.1 X射線光管：Cu靶，陶瓷X光管，2.2 kW *1.2.2 采用TWIST-TUBE（旋轉(zhuǎn)光管）技術(shù)，無需拆卸光管，即可實(shí)現(xiàn)光管本身線焦斑和點(diǎn)焦斑的切換。

1.2.3 焦斑大?。?.4 x 12 mm

1.3 電流電壓穩(wěn)定度：優(yōu)于?0.005%(外電壓波動(dòng)10%)時(shí)

1.4 X射線防護(hù)：安全連鎖機(jī)構(gòu)、劑量符合國標(biāo);防護(hù)罩外任何一點(diǎn)的計(jì)量小于1?Sv/h

2.測角儀部分

*2.1 測角儀：采用光學(xué)編碼器技術(shù)與步進(jìn)馬達(dá)雙重定位 *2.2 掃描方式：?/?測角儀，測角儀垂直放置 2.3 2?轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：-110?~168?

2.4 測角儀半徑：≥200 mm，測角圓直徑可連續(xù)改變 *2.5 可讀最小步長：0.0001?，角度重現(xiàn)性：0.0001? 2.6 驅(qū)動(dòng)方式：步進(jìn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng) 2.7 最高定位速度：≥1000?/min 2.8 采用智能虛擬測角儀全自動(dòng)控制，硬件自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)糾錯(cuò)

*2.9 驗(yàn)收精度：國際標(biāo)準(zhǔn)樣品現(xiàn)場檢測，全譜范圍內(nèi)所有峰的角度偏差不超過±0.01度。

3.探測器部分：能量色散陣列探測器：相對與常規(guī)探測器強(qiáng)度提高450倍以上，靈敏度提高一個(gè)數(shù)量級(jí)

*3.1 子探測器個(gè)數(shù)：>190個(gè) *3.2 最大計(jì)數(shù)：≥1 x 109 cps *3.3 線性范圍：≥4x107 cps *3.4 背景：<0.1 cps 3.5 能量分辨率：完全能夠方便Ka,K?射線，測量時(shí)無需再光路上使用濾波片。

*3.6 確保所有子探測器全好，具有靜態(tài)掃描功能，正常工作半徑下最大2thea角 ≥ 3.7度 *3.7 提供的半導(dǎo)體陣列探測必須適合小角和廣角測試，小角最小從0.3度開始

*3.8 提供的半導(dǎo)體陣列探測器必須同時(shí)合適常規(guī)物相分析也適合薄膜反射率測量，不需要更換其他探測器

4.光路部分

4.1 所有光學(xué)附件均采用模塊化設(shè)計(jì)，采用無工具安裝、拆卸方式 4.2 所有光學(xué)附件智能芯片識(shí)別、自動(dòng)精確定位 縫、自動(dòng)接受狹縫

*5 樣品臺(tái)：標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)

6.儀器控制和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

6.1 計(jì)算機(jī)：雙核主頻2.26G Hz以上，1G 內(nèi)存，160G HD，CD-RW，19”液晶顯示器，網(wǎng)卡，56k Modem，6.2 儀器控制和數(shù)據(jù)采集軟件

7.應(yīng)用軟件：要求提供以下應(yīng)用分析軟件 7.1 物相檢索軟件：含原始數(shù)據(jù)直接檢索功能 7.2 數(shù)據(jù)庫：最新的PDF2 卡片光盤 7.3 物相定量分析：可編程定量分析軟件 7.4 無標(biāo)樣晶粒大小分析及微觀應(yīng)力分析

7.5 粉末數(shù)據(jù)指標(biāo)化、結(jié)構(gòu)精修、從頭結(jié)構(gòu)解析以及無標(biāo)樣定量分析軟件

10.循環(huán)水冷系統(tǒng)：滿足相應(yīng)系統(tǒng)連續(xù)滿功率運(yùn)行（國內(nèi)供貨）

11.培訓(xùn)、安裝、技術(shù)文件

免費(fèi)國內(nèi)培訓(xùn)（買方負(fù)責(zé)受訓(xùn)人員差旅費(fèi)）、免費(fèi)安裝調(diào)試及現(xiàn)場培訓(xùn)、提供有關(guān)的全套技術(shù)文件。

12.工作條件

11.1 電力供應(yīng)：單相220V（?10%），50Hz 11.2 工作溫度：10?C-40?C 11.3 相對濕度：≤75％

11.4 儀器運(yùn)行的持久性：能夠滿足長時(shí)間連續(xù)工作

13.儀器及生產(chǎn)商必須滿足的相關(guān)國際安全標(biāo)準(zhǔn) 12.1 質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)：ISO9001 & EN29002認(rèn)證 12.2 歐洲安全標(biāo)準(zhǔn)：CE 認(rèn)證

12.3 射線防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)：DIN 54113認(rèn)證 14.技術(shù)服務(wù)

廠家在國內(nèi)要有維修中心，要有專職的維修工程師，要有備品備件庫。在提出維修要求后，能在4小時(shí)內(nèi)作出維修響應(yīng)，2-4個(gè)工作日內(nèi)到達(dá)用戶現(xiàn)場。*14.主機(jī)保修壹年，X光管質(zhì)保期4000小時(shí)。15.目的港：中國南京

16.發(fā)貨時(shí)間：合同生效后4個(gè)月內(nèi)

注: 標(biāo)注有“*”的項(xiàng)為必須滿足的要求。

第四篇：X射線衍射儀操作注意事項(xiàng)

X射線衍射儀操作中易發(fā)生危險(xiǎn)或故障的注意事項(xiàng)一、二、三、開機(jī)前必須先開啟循環(huán)冷卻水，否則儀器將報(bào)警。

關(guān)機(jī)后必須等待20分鐘以上才能關(guān)閉循環(huán)冷卻水，否則儀器將報(bào)警。人員長時(shí)間離開后必須關(guān)機(jī)、20分鐘后關(guān)循環(huán)水，否則萬一水管漏水將會(huì)損壞儀器。

四、在儀器使用過程中，應(yīng)隨時(shí)觀察循環(huán)冷卻水機(jī)組是否正常制冷，水溫是否保持在≤27℃。

五、開門時(shí)應(yīng)先按相應(yīng)按鈕，等提示音發(fā)出后再開門，否則X射線將自動(dòng)關(guān)閉。

六、七、開門、關(guān)門動(dòng)作應(yīng)輕緩，以免震動(dòng)過大導(dǎo)致X射線自動(dòng)關(guān)閉。X衍射制備樣品的樣品架為玻璃制品，易碎，應(yīng)輕拿輕放，以免摔壞。使用后應(yīng)及時(shí)清洗干凈。

八、測角儀角度限制：廣角≤110°，小角≥0.5°，否則將造成探測器和測角儀的損壞。

九、X射線儀在使用過程中如果儀器發(fā)生報(bào)警，應(yīng)及時(shí)通知值班人員，不得擅自處理。

十、X射線儀在使用過程中如果真空突然關(guān)閉，則不得再繼續(xù)使用，應(yīng)及時(shí)通知值班人員，待查原因。

十一、為防止電腦中毒，嚴(yán)禁在儀器設(shè)備上使用外來U盤和光盤，所有測試數(shù)據(jù)均在實(shí)驗(yàn)結(jié)束后由相關(guān)負(fù)責(zé)教師通過email發(fā)送。

第五篇：第五章X射線衍射儀介紹

第五章X射線衍射儀介紹

德國布魯克AXS公司

X射線衍射

X射線衍射(XRD)是所有物質(zhì)，包括從流體、粉末到完整晶體，最重要的無損分析工具。對材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說，X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制不可缺少的方法。

我們的解決方案所涵蓋的領(lǐng)域包括： 物 相分析：

可變狹縫：選擇您需要的試樣照射面積

適合Cr、Fe、Co、Cu、和Mo靶的二次單色器

閃爍計(jì)數(shù)器、Sol-X 固體探測器、位敏探測器PSD、面探測器

原始數(shù)據(jù)直接檢索 DIFFRACplus物相檢索:

對整個(gè)PDF卡片庫的快速物相檢索

晶體學(xué)（晶粒大小、指標(biāo)化、點(diǎn)參測定、解結(jié)構(gòu)等）

薄 膜分析 織 構(gòu)與殘余應(yīng)力研究

不同溫度、氣氛條件下的原位相變動(dòng)態(tài)研究

微量樣品和微區(qū)試樣分析

納米材料

實(shí)驗(yàn)室及過程自動(dòng)化

組合化學(xué)

[D8 ADVANCE 系列衍射儀] [D8 DISCOVER高分辨率衍射儀] [D8 GADDS面探測器衍射儀]

[D8 DISCOVER 組合化學(xué)衍射儀] [D4 過程控制衍射儀]

[“納米星”NANOSTAR小角散射系統(tǒng)]

[附件]

[XRD軟件]

X射線熒光光譜儀(XRF)作熒光分析

我們的波長色散X射線光譜儀（也稱：光譜儀解決方案）確保非破壞性、無環(huán)境污染、安全的多元素分析。

二維探測器：快速相分析

在常規(guī)的X射線衍射分析中，微量試樣或有擇優(yōu)取向樣品通常是裝在薄的玻璃毛細(xì)管中進(jìn)行測量。對此類試樣，其散射信號(hào)非常弱。而在較大立體角范圍內(nèi)探測衍射信號(hào)時(shí)，如測量整個(gè)或部分得拜環(huán)，則可得到可靠的衍射花樣。D8 DISCOVER衍射儀系列中的GADDS系統(tǒng)以其獨(dú)特的二維面探測器技術(shù)為您提供了完美的解決方案。

元素分析范圍從鈹?shù)解?/p>

含量范圍從零點(diǎn)幾個(gè)ppm到100 % 無標(biāo)樣XRF分析

準(zhǔn)確度: 0.05 %(相對誤差)

樣品形態(tài): 金屬、非金屬樣品、粉末、液體 樣品制備 簡單快捷

無需試樣或探測器移動(dòng)，即可同時(shí)采集大角度2?范圍數(shù)據(jù)

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集和顯示

即使來自弱散射試樣同樣可獲得精確的數(shù)據(jù)

圍繞Debye環(huán)強(qiáng)度積分消除擇優(yōu)取向影響

優(yōu)異的峰背比

薄膜分析：從玻璃或金屬上的薄膜到外延膜均可分析

隨著應(yīng)用領(lǐng)域的不同，薄膜和涂層的性能也不一樣。但是請注意：X射線衍射是探測它們的有力工具。對所有分析方法，通常的要求是入射角必須高度精確。通常來說薄膜的衍射信息很弱，因此需采用一些先進(jìn)的X射線光學(xué)組件和探測器技術(shù)。

薄膜掠射分析：薄膜物相分析 反射率儀: 測量薄膜的密度、厚度和表面及界面粗糙度

薄膜材料分析

織構(gòu)和殘余應(yīng)力研究

工件、礦物、陶瓷、聚合物等材料的微觀結(jié)構(gòu)，如擇優(yōu)取向（織構(gòu)）或晶體點(diǎn)陣畸變（殘余應(yīng)力）等，與材料的宏觀性能是密切相關(guān)的。因此，測定產(chǎn)品（例如：渦輪葉片、燃燒發(fā)動(dòng)機(jī)閥門等）的織構(gòu)和應(yīng)力可反應(yīng)產(chǎn)品的性能。X射線衍射技術(shù)廣泛的應(yīng)用于生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。最新的X射線光學(xué)器件和探測技術(shù)的應(yīng)用大大提高了數(shù)據(jù)質(zhì)量，并加快了測量速度。

高低溫原位研究

通常材料的性能隨溫度、壓力、氣氛、濕度等的變化而變化。用X射線衍射儀研究這些變化時(shí)，可將樣品放置于特殊樣品室中，該樣品室的窗口對X光具有良好的通透性，其控制參數(shù)的設(shè)定及自動(dòng)檢查完全由DIFFRACplus 軟件完成。

高低溫附件的溫度范圍為 5 K 到

3000 K 最高壓力可達(dá)60 bar 相對濕度可達(dá)90 % 可加惰性或反應(yīng)氣氛

獨(dú)特的高溫薄膜研究附件

bel Mirror 可消除溫度等因素引起的 G?峰位漂移等現(xiàn)象。

D8 GADDS 微區(qū)/微量分析衍射儀

微量樣品和試樣的微小區(qū)域分析具有一個(gè)共同的特點(diǎn)：其X射線衍射強(qiáng)度極低；一般僅有少數(shù)幾個(gè)晶粒對散射有貢獻(xiàn)，而且，還會(huì)引起得拜環(huán)（Debye rings）的不連貫，即得拜環(huán)為一些不連貫的衍射斑點(diǎn)。二維探測器可探測到不均勻衍射斑或整個(gè)得拜環(huán)，沿得拜環(huán)對強(qiáng)度數(shù)據(jù)進(jìn)行積分可有效地修正這些因素的影響，獲得精確的衍射圖象，從而為進(jìn)一步的分析提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

可同時(shí)測量單晶、織構(gòu)和非織構(gòu)類樣品

可探測小到50微米的微小區(qū)域的衍射信

息

用XYZ三軸自動(dòng)樣品平臺(tái)和激光/視頻對光系統(tǒng)使樣品對光及定位非常簡單 對得拜環(huán)積分可得到準(zhǔn)確的相對強(qiáng)度

D8 GADDS:大結(jié)構(gòu)分析

小角散射研究大結(jié)構(gòu)，需要高強(qiáng)度、低發(fā)散度的點(diǎn)光源。為了在透射光束附近觀察到試樣的微弱的小角散射信息，需要可調(diào)的beam stop和真空通道以防止面探測器 受直射光和空氣散射的影響。交叉的雙G?bel 鏡 及真空光路是D8 GADDS 用于小角散射的重要工具。

交叉G?bel鏡提供高強(qiáng)度的平行的點(diǎn)光源。

氦氣通道消除空氣散射

二維的 HI-STAR 探測器可得到最佳的信噪比

二維探測器可測量各向同性及各向異性樣品。

D8 GADDS: 在同一臺(tái)設(shè)備上分析納米結(jié)構(gòu)(SAXS)及原子結(jié)構(gòu)(XRD)

[返回] [超大結(jié)構(gòu)分析]

最后更新時(shí)間: June 1, 2001

X 射 線 衍 射 儀

X射線衍射儀 XRD-7000S/L型 X射線衍射儀 XRD-6000型

采用樣品水平型測角儀、采用高精度垂直測角儀。windows98／WindOWSNT／2000 NT對

對應(yīng)的軟件，操作非常便利。并且，應(yīng)的軟件，實(shí)現(xiàn)了多任務(wù)功能，操作簡便。

豐富的 性價(jià)

選配件支持多種多樣的應(yīng)用。L型則比出色。另外，豐富 的選配件滿足各種應(yīng)用可對應(yīng)最 需求。大350mm吵的大型樣品。

●X射線發(fā)生部 2kw或3kw 電腦控制 ●X射線發(fā)生部 2KW或3KW(CPU●測角儀 9—29聯(lián)動(dòng)，9、29獨(dú)立 控制)●動(dòng)作范圍 29：·6’～163’ ●測角儀 9～0,Os—9d聯(lián)動(dòng)，9s或9d●數(shù)據(jù)處理部 windows98／NT對應(yīng) 獨(dú)立

●動(dòng)作范圍 6s：—6~-82’，9d：·6‘-132’ ●選配件 大型R-0樣品臺(tái)，多毛細(xì)管

X射線光電子能譜儀 AMICUS

適用于工藝管理，可在約1分鐘的時(shí)間里

同時(shí)分析36種元素。采用4kw薄窗X射線管。

采用封氣型檢測器，直至Na的檢測也實(shí)現(xiàn)了

長期穩(wěn)定性，可以微量區(qū)域開始，在寬廣的

范圍內(nèi)進(jìn)行出色的分析。

●分析元素，Be～tj：U ●固定分析器 彎曲晶體聚焦分光，全元素真空型

●掃描型分光器 ’卜板晶體個(gè)行束方式

●軟件 定量·定性分析、工作曲線、作表、傳輸

島津/KRATOS/X射線光電子能譜儀 AXIS-165型

對于半導(dǎo)體、金屬、高分子材料等廣泛的樣

品，從宏觀分析、微觀分析、深度分析，或從元

素分析到狀態(tài)分析，都可做多方面評價(jià)的ESCA／

Auger的復(fù)合表面分析裝置。

●XPS靈敏度 11800Kcps(1．30ev，MgKa)400Kcps(0．55ev，單色器)●AES靈敏度500Kcps，S／N500：l

島津/KRATOS高性能X射線光電子能譜儀

AXIS-HSi型

可分析30llm以下的微小區(qū)域，同時(shí)，可

進(jìn)行XPS成圖，觀測到不同結(jié)合狀態(tài)的分布

圖，是高性能的XPS。

●靈敏度 Ag3ds／2 450W I．0eV時(shí)

120gm中：200kcpH

60gm中：75kcps ●成圖范圍 10mm x 10mm最大

●自動(dòng)分析 億10mm x 10mm視野內(nèi)的任意20j氣

島津/KRATOS高性能成圖X射線光電子能譜儀

AXIS-ULTRA型

采用新開發(fā)的雙模式分析器，從數(shù)秒至數(shù)十

秒的時(shí)間內(nèi)得到數(shù)llm以下的高分辨元素圖、化學(xué)

狀態(tài)圖，是真正的成圖XPS。并且，若在圖像上以

鼠標(biāo)點(diǎn)擊指定分析位置，則無需移動(dòng)樣品，便

可進(jìn)行最小至15llm微小區(qū)域的多點(diǎn)能譜分析。

●圖像分辨率(邊緣分辨率)21．tm左右 ●XPS靈敏度

宏 ll,800kcps／llOgm~ 735kcps

27gm~ 28kcpx ／(Ag3ds／2,450W、1．3eV)●最小分析直徑(能譜分析)15Llm中

多用途X射線透視檢查裝置 F1-30/35系列

適用于各種產(chǎn)品材料的內(nèi)部缺陷檢測，從塑

料、橡膠、木材到鑄件鋼材的焊接部件。為改善

質(zhì)量起到重大作用。

●x射線管電壓 25－150kv

●x射線管電流 0．5－3mA最大輸 225W

●5軸操縱裝置(FI-30型)

●X-Y-Z工作臺(tái) 400 x 300mm(FI-35型)

微焦點(diǎn)X射線透視裝置 SMX-80/100/130型

采用微X射線源，可得到鮮明的高倍率圖像。

使用與電腦一體化的強(qiáng)大的圖像處理軟件，可進(jìn)

行3D表示等豐富多彩的處理。最適于

電子裝置、復(fù)合材料等的內(nèi)部構(gòu)造評價(jià)、測定。

●X射線管電壓 ～80kV、—100kY、—130kV、●X射線焦點(diǎn) 7gm／80kV、5gm／100kY、8gm／ 130kV、●X-Y工作臺(tái) 300 x 350mm ●X射線管／Ⅱ管升降 120mm／620mm

微焦點(diǎn)X射線CT裝置 SMX-160CT型

采用焦點(diǎn)尺寸1Llm的管球，可得到高倍率、高精度的透視圖像及CT斷層圖像。適于小型電子 零部件、LSI IC器件的內(nèi)部檢查

●X射線管電壓 一160kV ●K射線焦點(diǎn) 1μm

●CT數(shù)據(jù)收集時(shí)間 60秒(1800view)●CT圖像再構(gòu)成時(shí)叫 12秒(512 x 512)

布魯克AXS X射線分析儀器

布魯克AXS X射線分析儀器公司由原西門子X射線分析儀器部（以下即稱AXS）獨(dú)立而成。因此完全繼承和延續(xù)了原西門子X射線分析儀器研制、生產(chǎn)、銷售及維護(hù)體系。1997年10月西門子將AXS股份轉(zhuǎn)讓給著名的材料分析儀器制造商－德國Bruker公司，從而成為Bruker AXS。AXS生產(chǎn)研制X射線分析儀器已有80多年歷史。

1895 倫琴發(fā)現(xiàn)X射線，AXS開始制造X射線管

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1920 開始研制X射線分析儀器及相應(yīng)的技術(shù)問題

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1928 推出衍射系統(tǒng)，光譜分析儀，Deby-Scherrer&Hull相機(jī)，Laue相機(jī)，多功能相機(jī)

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1931 生產(chǎn)了90KV X光管，公布了世界上第一本X射線分析儀器樣本

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1935 手提式X射線衍射應(yīng)力測定儀

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1936 K1型便攜式X射線發(fā)生器

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1947 K2型X射線發(fā)生器及薄膜相機(jī)

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1953 K3型臺(tái)式X射線發(fā)生器

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1957 推出帶尤拉環(huán)的織構(gòu)衍射儀

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1964 7道MRS1型多道X射線熒光光譜儀

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1965 首家推出X光管、測角儀、探測器三位一體整體結(jié)構(gòu)測角儀

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1966 AED X射線單晶衍射儀

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1967 推出世界上第一臺(tái)全封閉SRS1順序式X射線熒光光譜儀

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1968 MRS2型多道X射線熒光光譜儀

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1975 SRS200型單道X射線熒光光譜儀，首次用步進(jìn)馬達(dá)，邏輯控制，RS232接口 ·

1975 AUTEX自動(dòng)織構(gòu)衍射儀

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1977 AED2型X射線單晶衍射儀

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1977 28道端窗X光管，MRS400型多道X射線熒光光譜儀

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1977 推出世界上第一臺(tái)全封閉式D500型衍射儀

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1983 單道端窗X光管，SRS300型X射線熒光光譜儀

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1985 首次將PC機(jī)用于X射線儀功能控制及數(shù)據(jù)處理

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1987 SRS303型單道X射線熒光光譜儀

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1988 在美國與Nicolet合資生產(chǎn)X射線單晶衍射儀

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1989 MRS404型多道X射線熒光光譜儀

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1989 D5000型X射線衍射儀

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1990 購買美國Nicolet股份獨(dú)資生產(chǎn)P4型等單晶衍射儀

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1989-1993 X100Hi-STAR面探測儀, GADDS衍射儀系統(tǒng)，其中X100, GADDS先后獲美國R&D 100 Awards獎(jiǎng)

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1992 推出SRS3000順序式X射線熒光光譜儀

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1994 SMART-CCD X射線單晶衍射儀系統(tǒng)獲R&D 100 Awards獎(jiǎng)

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1995 MRS4000多道X射線熒光光譜儀

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1996 推出Goebel鏡，并獲美國R&D 100 Awards獎(jiǎng)

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1997 推出新一代衍射儀D5005以及Smart1000/2000新一代單晶衍射儀

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1998 推出新一代D8 X射線衍射儀及SRS3400 X射線熒光光譜儀；S4小巨人X射線熒光光譜儀、衍射光路Goebel鏡、單管X光透鏡、整體X光透鏡、光束壓縮及擴(kuò)展器件等。

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1999 推出第三代SMART APEX CCD系統(tǒng)、各種類型CCD、第三代Goebel鏡、小巨人X射線熒光光譜儀S4 EXPLORER。

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2000 推出Microsource高比功率光源單晶結(jié)構(gòu)分析儀和PROTEUM CCD單晶結(jié)構(gòu)分析儀系列