第一篇:分析生產問題的方法 測試答案
測試成績:100.0分。恭喜您順利通過考試!單選題
1.使用QC手法分析生產問題的目的不包括: √ A 分解現(xiàn)狀
B 尋找適當?shù)耐黄瓶?/p>
C 尋找適當資源
D 改善工作流程
正確答案: D 2.QC手法常用到的表現(xiàn)工具不包括:A 檢查表
B 3U MEMO C 直方圖
D 層別圖
正確答案: B 3.關于散布圖,下列表述錯誤的是:A 分析數(shù)據(jù)的工具
B 可推斷數(shù)據(jù)的相關度
C 可用排列成直方圖的方式繪制
√ √ D 呈現(xiàn)相關經費
正確答案: D 4.下列對特性要因圖的描述中,不準確的是: √ A 不能分析出所有因果關系
B 從不良品和效益出發(fā)分析問題
C 分析問題的主要和次要因素
D 又被稱為“魚骨圖”
正確答案: A 5.運用QC手法分析問題可以從多角度出發(fā),其中不包括: √ A 客戶角度
B 中間商角度
C 成本角度
D 作業(yè)習慣角度
正確答案: B 6.PDCA管理循環(huán)包括①處理②實施③檢查④計劃四個步驟,下列排序正確的是: √ A ④②③①
B ①④②③ C ①②③④
D ②①④③
正確答案: A 7.PDCA循環(huán)法計劃階段的工作內容不包括: √ A 分析現(xiàn)狀
B 尋找原因
C 制定計劃
D 執(zhí)行計劃
正確答案: D 8.公司在進行產品改善時,重大事件不包括: √ A 員工曠工
B 客戶退貨
C 半成品過量積壓
D 不良品過多
正確答案: A 9.在生產企業(yè)中,長遠糾正措施的落實有三個過程,其中不包括:A 臨時措施禁止問題擴散
√
B 審核數(shù)據(jù)
C 取締和修正問題根源
D 重新控制過程
正確答案: B 10.在生產企業(yè)中,對多數(shù)員工都有效的嘉許方式不包括: √ A 頒發(fā)錦旗
B 發(fā)獎金
C 贈送小禮物
D 頒發(fā)獎牌
正確答案: B 判斷題
11.跨功能性的問題點是導致公司出現(xiàn)重大質量事件的主要原因。此種說法: √
正確
錯誤 正確答案: 正確
12.在生產企業(yè)中,落實糾正措施要盡可能一步到位,避免重復和浪費資源。此種說法: √
正確 錯誤 正確答案: 錯誤
13.在解決和改善生產問題的同時,通常會引發(fā)其它潛在危險。此種說法: √
正確
錯誤 正確答案: 正確
14.在分析生產問題的過程中,應以主客觀相結合的態(tài)度進行。此種說法:正確
錯誤 正確答案: 錯誤
15.管制圖是用來區(qū)分由異常原因引起波動的工具。此種說法: √
正確
錯誤 正確答案: 正確
√
第二篇:材料現(xiàn)代分析測試方法
一、名詞解釋(共有20分,每小題2分。)
1.輻射的發(fā)射:指物質吸收能量后產生電磁輻射的現(xiàn)象。
2.俄歇電子:X射線或電子束激發(fā)固體中原子內層電子使原子電離,此時原子(實際是離子)處于激發(fā)
態(tài),將發(fā)生較外層電子向空位躍遷以降低原子能量的過程,此過程發(fā)射的電子。
3.背散射電子:入射電子與固體作用后又離開固體的電子。
4.濺射:入射離子轟擊固體時,當表面原子獲得足夠的動量和能量背離表面運動時,就引起表面粒
子(原子、離子、原子團等)的發(fā)射,這種現(xiàn)象稱為濺射。
5.物相鑒定:指確定材料(樣品)由哪些相組成。
6.電子透鏡:能使電子束聚焦的裝置。
7.質厚襯度:樣品上的不同微區(qū)無論是質量還是厚度的差別,均可引起相應區(qū)域透射電子強度的改
變,從而在圖像上形成亮暗不同的 區(qū)域,這一現(xiàn)象稱為質厚襯度。
最大)向短波方?8.藍移:當有機化合物的結構發(fā)生變化時,其吸收帶的最大吸收峰波長或位置(向移動,這種現(xiàn)象稱為藍移(或紫移,或“向藍”)。
9.伸縮振動:鍵長變化而鍵角不變的振動,可分為對稱伸縮振動和反對稱伸縮振動。
10.差熱分析:指在程序控制溫度條件下,測量樣品與參比物的溫度差隨溫度或時間變化的函數(shù)關系的技術。
二、填空題(共20分,每小題2分。)
1.電磁波譜可分為三個部分,即長波部分、中間部分和短波部分,其中中間部分包括(紅外線)、(可見光)和(紫外線),統(tǒng)稱為光學光譜。
2.光譜分析方法是基于電磁輻射與材料相互作用產生的特征光譜波長與強度進行材料分析的方法。
光譜按強度對波長的分布(曲線)特點(或按膠片記錄的光譜表觀形態(tài))可分為(連續(xù))光譜、(帶狀)光譜和(線狀)光譜3類。
3.分子散射是入射線與線度即尺寸大小遠小于其波長的分子或分子聚集體相互作用而產生的散射。
分子散射包括(瑞利散射)與(拉曼散射)兩種。
4.X射線照射固體物質(樣品),可能發(fā)生的相互作用主要有二次電子、背散射電子、特征X射線、俄
歇電子、吸收電子、透射電子
5.多晶體(粉晶)X射線衍射分析的基本方法為(照相法)和(X射線衍射儀法)。
6.依據(jù)入射電子的能量大小,電子衍射可分為(高能)電子衍射和(低能)電子衍射。依據(jù)
電子束是否穿透樣品,電子衍射可分為(投射式)電子衍射與(反射式)電子衍射。
2≠0)。?F?7.衍射產生的充分必要條件是((衍射矢量方程或其它等效形式)加
8.透射電鏡的樣品可分為(直接)樣品和(間接)樣品。
9.單晶電子衍射花樣標定的主要方法有(嘗試核算法)和(標準花樣對照法)。
10.掃描隧道顯微鏡、透射電鏡、X射線光電子能譜、差熱分析的英文字母縮寫分別是(stm)、(tem)、(xps)、(DTA)。
11.X 射線衍射方法有、、和。
12.掃描儀的工作方式有 和 兩種。
13.在 X 射線衍射物相分析中,粉末衍射卡組是由 委員會編制,稱為 JCPDS 卡片,又稱為 PDF 卡片。
14.電磁透鏡的像差有、、和。
15.透射電子顯微鏡的結構分為。
16.影響差熱曲線的因素有、、和。
三、判斷題,表述對的在括號里打“√”,錯的打“×”(共10分,每小題1分)
1.干涉指數(shù)是對晶面空間方位與晶面間距的標識。晶面間距為d110/2的晶面其干涉指數(shù)為(220)。
(√)
2.倒易矢量r*HKL的基本性質為:r*HKL垂直于正點陣中相應的(HKL)晶面,其長度r*HKL等于(HKL)之
晶面間距dHKL的2倍。(×)倒數(shù)
3.分子的轉動光譜是帶狀光譜。(×)線狀光譜
4.二次電子像的分辨率比背散射電子像的分辨率低。(×)高
5.一束X射線照射一個原子列(一維晶體),只有鏡面反射方向上才有可能產生衍射。(×)
6.俄歇電子能譜不能分析固體表面的H和He。(√)
7.低能電子衍射(LEED)不適合分析絕緣固體樣品的表面結構。(√)
8.d-d躍遷受配位體場強度大小的影響很大,而f-f躍遷受配位體場強度大小的影響很小。(√)
9.紅外輻射與物質相互作用產生紅外吸收光譜必須有分子極化率的變化。(×)
10.樣品粒度和氣氛對差熱曲線沒有影響。(×)
四、單項選擇題(共10分,每小題1分。)
1.原子吸收光譜是(A)。
A、線狀光譜 B、帶狀光譜 C、連續(xù)光譜
2.下列方法中,(A)可用于測定方解石的點陣常數(shù)。
A、X射線衍射線分析 B、紅外光譜 C、原子吸收光譜 D 紫外光譜子能譜
m)的物相鑒定,可以選擇(D)。?3.合金鋼薄膜中極小彌散顆粒(直徑遠小于
1A、X射線衍射線分析 B、紫外可見吸收光譜 C、差熱分析 D、多功能透射電鏡
4.幾種高聚物組成之混合物的定性分析與定量分析,可以選擇(A)。
A、紅外光譜 B、俄歇電子能譜 C、掃描電鏡 D、掃描隧道顯微鏡
5.下列(B)晶面不屬于[100]晶帶。
A、(001)B、(100)C、(010)D、(001)
6.某半導體的表面能帶結構測定,可以選擇(D)。
A、紅外光譜 B、透射電鏡 C、X射線光電子能譜 D 紫外光電子能譜
7.要分析鋼中碳化物成分和基體中碳含量,一般應選用(A)電子探針儀,A、波譜儀型 B、能譜儀型
8.要測定聚合物的熔點,可以選擇(C)。
A、紅外光譜 B、紫外可見光譜 C、差熱分析 D、X射線衍射
9.下列分析方法中,(A)不能分析水泥原料的化學組成。
A、紅外光譜 B、X射線熒光光譜 C、等離子體發(fā)射光譜 D、原子吸收光譜
10.要分析陶瓷原料的礦物組成,優(yōu)先選擇(C)。
A、原子吸收光譜 B、原子熒光光譜 C、X射線衍射 D、透射電鏡
11.成分和價鍵分析手段包括【 b 】
(a)WDS、能譜儀(EDS)和 XRD(b)WDS、EDS 和 XPS
(c)TEM、WDS 和 XPS(d)XRD、FTIR 和 Raman
12.分子結構分析手段包括【 a 】
(a)拉曼光譜(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立葉變換紅外光譜(FTIR)(b)NMR、FTIR 和 WDS
(c)SEM、TEM 和 STEM(掃描透射電鏡)(d)XRD、FTIR 和 Raman
13.表面形貌分析的手段包括【 d 】
(a)X 射線衍射(XRD)和掃描電鏡(SEM)(b)SEM 和透射電鏡(TEM)(c)波譜儀(WDS)和 X 射線光電子譜儀(XPS)(d)掃描隧道顯微鏡(STM)和
SEM
14.透射電鏡的兩種主要功能:【 b 】
(a)表面形貌和晶體結構(b)內部組織和晶體結構
(c)表面形貌和成分價鍵(d)內部組織和成分價鍵
五、簡答題(共40分,每小題8分)
答題要點:
1.簡述分子能級躍遷的類型,比較紫外可見光譜與紅外光譜的特點。
答:分子能級躍遷的類型主要有分子電子能級的躍遷、振動能級的躍遷和轉動能級的躍遷。紫外可見光譜是基于分子外層電子能級的躍遷而產生的吸收光譜,由于電子能級間隔比較大,在產生電子能級躍遷的同時,伴隨著振動和轉動能級的躍遷,因此它是帶狀光譜,吸收譜帶(峰)寬緩。而紅外光譜是基于分子振動和轉動能級躍遷產生的吸收光譜。一般的中紅外光譜是振-轉光譜,是帶狀光譜,而純的轉動光譜處于遠紅外區(qū),是線狀光譜。
2.簡述布拉格方程及其意義。)的相互關系,是X射線衍射產生的必要條件,是晶體結構分析的基本方程。?)和波長(?)與反射晶面面間距(d)及入射線方位(?。其意義在于布拉格方程表達了反射線空間方位(?=?為X射線的波長。干涉指數(shù)表示的布拉格方程為2dHKLsin?為掠射角或布拉格角,?,式中d為(hkl)晶面間距,n為任意整數(shù),稱反射級數(shù),?=n?答:晶面指數(shù)表示的布拉格方程為2dhklsin
3.為什么說掃描電鏡的分辨率和信號的種類有關?試將各種信號的分辨率高低作一比較。
二次電子像(幾nm,與掃描電子束斑直徑相當)?答:掃描電鏡的分辨率和信號的種類有關,這是因為不同信號的性質和來源不同,作用的深度和范圍不同。主要信號圖像分辨率的高低順為:掃描透射電子像(與掃描電子束斑直徑相當)>背散射電子像(50-200nm)> 特征X射圖像(100nm-1000nm)。?吸收電流像
4.要在觀察斷口形貌的同時,分析斷口上粒狀夾雜物的化學成分,選擇什么儀器?簡述具體的分析方
法。
答:要在觀察斷口形貌的同時,分析斷口上粒狀夾雜物的化學成分,應選用配置有波譜儀或能譜儀的掃描電鏡。具體的操作分析方法是:先掃描不同放大倍數(shù)的二次電子像,觀察斷口的微觀形貌特征,選擇并圈定斷口上的粒狀夾雜物,然后用波譜儀或能譜儀定點分析其化學成分(確定元素的種類和含量)。
5.簡述影響紅外吸收譜帶的主要因素。
答:紅外吸收光譜峰位影響因素是多方面的。一個特定的基團或化學鍵只有在和周圍環(huán)境完全沒有力學或電學偶合的情況下,它的鍵力常數(shù)k值才固定不變。一切能引起k值改變的因素都會影響峰位變化。歸納起來有:誘導效應、共軛效應、鍵應力的影響、氫鍵的影響、偶合效應、物態(tài)變化的影響等。
6.透射電鏡主要由幾大系統(tǒng)構成? 各系統(tǒng)之間關系如何?
答:四大系統(tǒng):電子光學系統(tǒng),真空系統(tǒng),供電控制系統(tǒng),附加儀器系統(tǒng)。
其中電子光學系統(tǒng)是其核心。其他系統(tǒng)為輔助系統(tǒng)。
7.透射電鏡中有哪些主要光闌? 分別安裝在什么位置? 其作用如何?
答:主要有三種光闌:
①聚光鏡光闌。在雙聚光鏡系統(tǒng)中,該光闌裝在第二聚光鏡下方。作用:限制照明孔徑角。
②物鏡光闌。安裝在物鏡后焦面。作用: 提高像襯度;減小孔徑角,從而減小像差;進行暗場成像。
③選區(qū)光闌:放在物鏡的像平面位置。作用: 對樣品進行微區(qū)衍射分析。
8.什么是消光距離? 影響晶體消光距離的主要物性參數(shù)和外界條件是什么?
答:消光距離:由于透射波和衍射波強烈的動力學相互作用結果,使I0和Ig在晶體深度方向上發(fā)生周期性的振蕩,此振蕩的深度周期叫消光距離。
影響因素:晶胞體積,結構因子,Bragg角,電子波長。
第三篇:心理素質測試和答案分析
一、心理測試心理測試的目的考察報考者的性情、意志、品質以及反應等心理素質是否符合一個合格的國家公務員所必須達到的各項要求。
二、心理測試形式
在公務面試中有些行業(yè)和單位要進行心理測試,心理測試一般采取試卷形式進行。有條件的單位也采取機器答題。
三、心理測試的評分標準
心理測試問題回答無對錯之分,有可行性、實施性之別。評閱由機器判讀。
四、心理測試問題回答技巧
第一,問題回答要結合自身實際。例如:(1)你有工作實踐能力嗎?A.很多B一定的C沒有。作為一個大學生你的工作實踐很少,你就不能回答A;(2)你覺得你知識全面嗎?A很全面B有一定的知識面C差距很大。作為一個年輕人,需要學習的知識還有很多,如果你選擇A,別人就覺得你在說假說、大話;(3)你有過失敗吧?A從沒有,B有過失敗的經歷C有但不太大。失敗是每一個人都會遇到的,如果你選擇A,就和實際不符。
第二,有些選擇很完美,但在實際生活中卻無法實施。例如:(1)你捐款援助希望工程嗎?A經常B偶爾C從不。選擇A很完美,但是作為大學生(或公務員),你收入有限不可能經常捐選擇款援助希望工程。(2)同事之間有矛盾你調解嗎?A有矛盾就調解B必要時調解C從不調解。選擇A很完美,但是同事之間有矛盾很復雜,你有這種能力嗎。(3)你對請客送禮的態(tài)度是:A從不參與B必要時也有過C經常參與。選擇A很完美,請客送禮是一種社會現(xiàn)象,你從不參與現(xiàn)實嗎。
第三,測試個人表現(xiàn)問題不能回答的太完美。例如:(1)你工作時間請假嗎?A從不B偶爾C經常。一個人生活在社會中除了工作,還有家人、朋友等,從不請假做得到嗎。(2)你有缺點嗎?A沒有B有一定的C很多。金無赤金,人無完人,你沒有缺點可能嗎。(3)你和同事鬧過矛盾嗎?A從來沒有B有過,但不深C經常。大家在一起工作,由于經驗、閱歷、觀點不同,不發(fā)生矛盾是不可能的,只是矛盾有輕有重,有大有小
1.如果你的上司牌氣很急,批評下屬不留情面,大家的情緒經常受到影響,作為下屬,你要如何處理?()
A.直接找上司談話,建議其改變領導方式
B.私下找領導溝通,婉轉請求其注意自己的態(tài)度
C.與其他同事一起商量,聯(lián)名建議領導改變領導方式
2.如果你在公務員面試中沒有被錄取,你會怎樣想?()A.很沮喪,覺得自己沒盡全力
B.沒什么大不了的,此處不留我,自有留我處
C.這是自己的一次寶貴經驗,下次再努力
3.如果你發(fā)現(xiàn)你的直接領導可能公款私用,你怎么辦?()
A.直接向上級領導反映,決不能放過貪官污吏
B.私下進行秘密調查,做到心中有數(shù)
C.按照特定程序謹慎辦事,既不能影響團結,也不能放任不管
4.一份機密文件丟失,某日又出現(xiàn)在你的抽屜里,你將()
A.聽之任之,反正已經回來了,不會有什么事
B.私下請人幫忙調查,找到真正原因
C.向直接領導報告,并檢討自己的過失
5.在類似于火車站那樣的嘈雜環(huán)境中,如果給你一篇枯燥的論文,你會()。
A.認認真真地閱讀,并能領會其中意思
B.仔細地閱讀,但經常會左顧右盼
C.不可能集中注意力,論文內容不知所云
6.在辦公室中,如果某天你的手表丟失了,很多同事都指責同一人,你會()。
A.責令那個同事趕緊交出來,因為群眾的眼睛是雪亮的B.從此對那個同事敬而遠之,但也不會逼迫他交出來
C.首先不會去憑空懷疑那個同事,而是怪自己太不小心
7.上級領導讓你去組織一次招商洽淡會,可你卻從來沒有做過類似事情,你將()。
A.勉為其難,硬著頭皮上,絕不能辜負領導心意
B.坦率地向領導說出自己的難處,請領導另擇合適的人才
C.坦然接受任務,然后邊干邊學,力爭把任務完成好
8.如果某同事當眾用笑話侮辱你,你會()。
A.痛斥該同事,以牙還牙
B.以同樣的窗體底端幽默方式反其道而行之
C.淡然一笑,不會放在心上
9.如果你的領導文化程度不如你高,當他安排一件你不熟悉的工作時,你會()。
A.認真地完成任務,因為領導交待的工作必須完成B.覺得領導是在故意刁難你,想看你出丑
C.覺得很倒霉,想方設法逃避這項任務
10.如果在一次大會上,領導當眾狠狠批評你,而且措辭極其難聽,你將()。
A.據(jù)理力爭,絕不會把不是自己的錯誤攬到自己身上
B.沉默不語,認真反思自己的錯誤
C.誠懇道歉,表示一定會努力改正錯誤
11.如果你的一個朋友考上了你所在部門的公務員,他請你在面試前幫他在領導面前美言幾句,你會()。
A.為朋友兩肋插刀,他的事就是我的事,因此要想方設法幫他說好話
B.做公務員要鐵面無私,絕不能徇私情,所以不會在領導面前提起
C.根據(jù)朋友的才能來看,如果他確實是人才,我不介意向領導推薦;反之,會盡量委婉地拒絕
12.由于你經常跟著領導外出辦事,所以有些同事嫉妒你,說你愛拍馬屁,此時你()。
A.十分憤怒和委屈,對大家為什么不能相互理解而困惑
B.聽之任之,反正身正不怕影子斜
C.與同事妥善溝通,向大家表明自己僅僅是為了工作需要
13.如果領導安排你領導一個小組工作,但組員都和你比較熟悉,所以不大把你的命令當回事,你會()。
A.果斷向領導報告,請求換到別的組或換掉組員
B.嚴厲警告組員,要求大家從工作大局出發(fā),不可因個人私情而影響工作
C.溫和地告訴大家要認真工作,團結才是致勝之道
14.如果你的同事生活中遇到困難,而恰好你的領導在同一時刻也遇到困難,你會()。
A.先幫助同事,否則會被別人認為自己是在奉承領導
B.先幫助領導,因為他會關系到自己的前途
C.視情況輕重來幫助,無論幫了哪一方,都要對另一方表示歉意和自己的為難之處
15.假如單位要求你監(jiān)督早晨出勤情況,而某日你的一個好友因病遲到了十分鐘,你會()。
A.仍舊記遲到十分鐘,因為制度需要大家共同遵守
B.不會作記錄,反正只有十分鐘,而且他又是自己的朋友,更何況遲到是由于生病的原因
C.照記不誤,同時對好友多加關懷,為他辦一些力所能及的事
16.如果單位分了房子,而你的房子又比較差,此時你愛人要求你去找領導換一套,你會()。
A.愛人的指示就是最高指示,直接找相關領導去說理
B.耐心地給愛人解釋不能去找領導的原因,好好安慰她
C.堅持原則,拒絕去找領導,因為小家要服從大局
17.在公交車上,你的旁邊過來一位老大爺,你本打算讓座,但當時你的腿恰好骨折了,你會()。
A.硬撐著站起來給老人讓座,要永遠保持社會美德
B.假裝看不見,萬一自己摔倒了,腿殘廢的話就麻煩了
C.請求旁邊的同志為老人讓個座位,并說明自己的原因
18.對于工作以后的再“充電”,你的看法是()。
A.多此一舉,反正也這么大了,沒必要再學習
B.多多益善,人應該不斷地提升自我,不能裹足不前
C.在不耽誤工作的情況下努力學習,要一方面服務社會,一方面改善自己
19.如果兩個同事在辦公室里爭吵起來,作為部門領導,你會()。
A.各打五十大板,責備兩人不該在公共場合吵架
B.先勸開兩人,問明情況,再視情況作出決定
C.不聞不問,尊重他人隱私,相信他們自己會平息不來
20.在面試過程中,如果考官對你十分冷談,你會()。
A.心中很惱火,覺得自己簡直是在對牛彈琴
B.泰然處之,將這視為考官對自己的考驗
C.冷漠相視,反正以后他不一定是自己的上級
21.假如領導每天都讓你加班,而你的父親卻又生病需要你早點回家照顧,此時你會()。
A.坦白告訴領導自己加班有難處,畢竟父母更重要
B.盡快做完工作,再回家照顧父母
C.不知如何是好
22.如果你在工作中遇到一位十分能干的同事,而且領導特別賞識他,你會怎么想?()
A.他好,我要比他更好
B.其實也沒什么,我只不過是才不外露而已
C.我應該好好跟他相處,爭取從他那里學些東西
23.如果你所在單位領導的孩子生重病,他要求你開公車送往窗體底端醫(yī)院,此時你()。
A.坦誠地告訴對方自己不能違背原則,幫助對方叫救護車
B.接受安排,馬上將孩子送往醫(yī)院,因為生命重于一切
C.先送往醫(yī)院,然后向上級領導反映這個情
24.如果在公交車遇到一名男子調戲一位婦女,你上前勸阻,但此人突然拔出匕首,威脅你走開,旁人卻無動于衷,你會()。
A.瞅準機會,利用一切條件和可能盡全力將該人制服B.趕緊走開,然后偷偷打電話報C.臨陣退縮,不再管這件事,畢竟刀子不長眼
25.如果你在單位工作很長時間了,卻一直沒被提拔,而許多比你資歷淺的人卻日益高升,你會怎么想?()。
A.看來這份工作并不適合我,我該換個工作B.我是不是也該走走領導門路?他們應該都是這么爬上去的C.是不是我有什么失誤的地方?
26.以下一些關于面試著裝的規(guī)則,你認為正確的是()。
A.穿西裝時,一定要打領帶,且要夾領帶夾B.面試時,不能穿旅游鞋、運動鞋、休閑鞋C.女士可以戴首飾,但要注意不超過五件
27.面試禮儀是非常重要的,你認為以下正確的是()。
A.見到考官要主動問候,并快步上前與之握手B.接名片時,一定要雙手來接,快速瞟一眼后,收入名片夾或包內C.臨出門時,一定要說“謝謝各位考官,再見!”,然后轉身帶上門
28.公務員一言一行都代表國家、政府形象。所以必然遵循一定的行為規(guī)則、國際慣例。如果你是某單位接待人員,以下你認為行為錯誤的是()。
A.在為雙方介紹時,要先介紹主人,再介紹客人B.男士和女士并行時,要請女士走在前方,但在上樓梯時,要走在女士前方C.就餐時,要主動請客人點菜,以示尊重
29.作為公務員,每天要接待不同的人群,坐位問題是非常講究的,以下你認為不正確的是()。
A.與客人座談時,一般請客人坐相對主位,即背靠門的位置B.如果開車去接重要首長,應請首長坐駕駛座正后方的位置C.開慶功大會時,主席臺上的就坐位置是:一把手居中,其余領導依職位高低按先左后右的順序依次在一把手兩旁安排
30.面試過程中,考生可以主動問考官一些問題,但以下有些是考生不應當問的,請你選出可以問的一項。()
A.請問貴單位所招的是筆試的前兩名嗎?B.貴單位能夠在工作后分我一套房子嗎?C.這個問題我剛才沒說
清楚,請問我可以補充一下嗎?
31.你的能力得到領導的認可,提拔你在重要職位任職時,你會()。
A.心中十分高興,但對自己是否能夠勝任毫無信心B.相信除了自己,沒有人會做好這份工作C.冷靜面對,仔細分析這份工作的要求,做足準備,爭取把工作做好
32.在單位,當你和同事們談到A同事時,其中一位同事說:“他又挨批了!”你會說()。
A.“他的確很差勁,做什么都不認真,領導批評他是應該的?!盉.“不會吧,那他下次可真得認真點兒了?!盋.“是嗎,真可憐!”
33.單位的老領導中午時間總找你下棋,常常到了上班時間還意猶未盡,這時你會()。
A.不厭其煩,繼續(xù)陪領導下棋,誰讓他是領導呢B.拒絕領導,并告訴他我要上班了C.委婉地暗示老領導上班時間到了,并告訴他等下班后一定陪他下到過癮
34.上級領導派一位和你有矛盾的同事一起出差,此時你會()。
A.加強溝通,爭取排解誤會,希望能共同出色地完成任務B.為了完成好工作任務,會對他處處妥協(xié)C.分頭行事,相信我一定會比他做得好
35.一個朋友托你利用職務之便辦件事,這件事有違你的原則,你會()。
A.向他講明自己的想法和原則,并想辦法爭取通過其他合理的方式解決問題B.一口回絕,并斥責朋友不應該提出不合理的要求C.如果不違法,就替他
36.當你的朋友遇到麻煩時,總會來找你幫忙,你會這樣想()。
A.他們真是事情多,不知為什么他們總來找我B.他們來找我?guī)兔?,我很高興,是我力所能及的,我就一定給予幫助C.只要他們來找我,我就會有求必應
37.你新到一個工作崗位,新同事都對你很冷漠,沒人主動跟你講話,此時你會想()。
A.新同事都充滿了嫉妒心理,為此我更要做到最好B.可能這個環(huán)境就這樣,他們應該不會針對我吧C.這是一個新的環(huán)境,相信通過我的努力,他們會接受我的
38.領導派你到地方某區(qū)進行調查,沒想到他們不但不配合你,還有意刁難你,此時你會()。
A.向上級領導反映情況,請求領導的進一步指示B.向地方擺明自己的身份,要求他們予以配合C.調查實情,冷靜分析,爭取贏得對方的配合
39.你的一位同事因為一次誤會,之后總是在背后議論你,影響了你的工作情緒,你會()。
A.找領導反映,說明這位同事的作為影響到了自己的情緒,要求領導立即解決B.找出他的缺點,告訴他“己所不欲,勿施于人” C.分析自己的錯誤,找他溝通,爭取消除誤會
40.你約好去會見一位同事,可你因為疲倦睡著了,沒有赴約,想打電話解釋,可電話不通,你會這樣想()。
A.幸虧約會沒有什么大事,下次再約就行了B.相信他會理解的,明天再解釋吧C.等一會兒再打電話,爭取盡早做出解釋并表示歉意
41.你的上級領導是一個很冷淡的人,一次邀請你去他家吃飯,你會想()。
A.友好赴約,大方交流,也許可以發(fā)現(xiàn)領導生活熱情的一面B.因為緊張,借口有事,拒絕赴約D.想辦法給他留個好印象,做好全方位準備
42.你怎樣和新的同事進行接觸?()。
A.放開拘束,大膽交流,無話不說B.他們先主動溝通,我才會有回應C.積極主動,努力配合,多進行溝通
43.當你因為工作覺得煩躁或壓抑時,你會怎樣?()。
A.不由自主地與周圍的人們生氣B.告訴朋友自己心情不好,找他們散心C.設法掩飾
44.當你在工作中遇到未預料到的突發(fā)事件時,你會()。
A.冷靜分析,從容應對,爭取使事情得到最好的解決B.緊張,盡量讓自己鎮(zhèn)定,努力尋找解決問題的辦法C.交給直接領導,相信他一定會有辦法
45.在日常工作中,以下哪種情形符合你()。
A.辦事情想得周全,認真面對每一次工作任務B.喜歡隨時向領導請教,因為領導就是權威C.一切順其自然,領導給我什么任務,就完成什么任務
46.直接領導要求你在30日內完成一項工作,你會()。
A.稍做準備,相信自己大概在30日左右能夠完成任務
B.提前做準備,制訂完備的計劃,會準時甚至更早地完成工作任務
C.會先做別的工作,告訴自己時間還長
47.有一老人坐火車時,不小心將自己的一只名牌鞋子掉出了窗外,隨即,他便立刻將另一只鞋子也扔出了窗外,此時,你會這樣想()。
A.莫名其妙,這老人一定是神經有問題B.這樣撿到鞋子的人就能得到一雙鞋子了C.這老人一定是要顯示自己很有錢,真沒什么意義
48.大學生放棄高薪的工作,回到農村當干部,并干得很出色,他的事例被廣為宣傳,你會這樣看()。
A.表示理解,但如果是我自己,也許我會選擇高薪的工作B.這位大學生是在炒作自己,希望以此形式來為自己往上爬打下一個基礎C.一個人有一個人的選擇,這說明許多大學生在擇業(yè)上還是理智的
49.如果你是一名村干部,遇到兩個農民因瑣事大打出手,你會如何解決?()。
A.派人制止斗毆,對斗毆的人進行嚴厲批評和教育B.立刻止息爭斗,調查事由,協(xié)調利益,解決糾紛C.立刻派人止息爭斗,讓他們進行簡單協(xié)調即可
50.領導交辦的事情,你知道是錯的,你會怎么辦?()。
A.先確定是否真的有錯,確定有錯的話,就會找合適的機會向領導說明情況B.信任領導,因為他一定會有他的道理C.聽領導安排,即使有錯也沒辦法
51.領導認為一個同事做一項工作的時候效率低下,當眾要求你去協(xié)助他完成這項工作,而作工作的時候,你的同事抵觸情緒比較大,你會怎么辦?()。
A.該怎樣完成就怎樣完成,如果同事不配合,就向領導如實反映B.主動與他溝通,告訴他相信領導是對事不對人,爭取互相配合,共同提高工作效率C.想辦法排除同事抵觸情緒,沒法改變就自己干,相信自己做得比他好
52.在一次招商引資的簽約現(xiàn)場會上,正要和外商簽合同時,由你負責保管的合同卻怎么也找不到了,此時你會()。
A.鎮(zhèn)定自若,想辦法告訴領導推遲簽約B.先想辦法拖延時間,爭取在短時間內找到合同,找不到就向領導如實匯報C.冷靜回憶合同可能存留的位置,在短時間內找到合同,無論結果如何,事后會認真反省錯誤
53.你是行政執(zhí)法人員,一次你的親友犯錯向你求情,你會怎么辦?()。
A.如果不違背法律,也不違背大的原則,也許我會睜一只眼閉一只眼B.酌情考慮,如果親友違法,只有大義滅親。如果情節(jié)較輕,則曉之以理,對其進行教育C.遵循回避原則,向親友表明自己不會過問此事
54.社會上許多人對身處絕境的人給予幫助,尤其是一些名人常會大方捐款,你怎么看待此種現(xiàn)象?()。
A.關愛別人就等于關愛自己,向有困難的人伸出援助之手,是我們應當去做的B.這些人純屬炒作自己,借此揚名而已C.幫助別人是件快樂的事,如果我是名人,我也會大方出資,捐助需要幫助的人
55.在面試中,考官說有人向他檢舉你曾在考試中作過弊,此時你會想()。
A.不會吧,是誰這么卑鄙,要在這個時候害我B.應該是考官在考驗我,一般不會有人這樣做,就算有,我也會從容應對C.我該怎么說才能讓考官信任我呢?
56.如果你的直接領導總有一種習慣讓你很難接受,你會怎么辦?()。
A.如果確實影響到我,我會先找合適的機會向領導委婉講明B.只能將就,每一個人總會有自己的習慣C.直接向上級領導進行反映,要求給予解決
57.你在執(zhí)法時,發(fā)現(xiàn)一個食品店的某食品嚴重不符合國家衛(wèi)生標準,店主立刻暗中向你行賄,并暗示如果不放他一馬,他會找你麻煩,這時你該怎么辦()。
A.當場進行指責,指責他妨礙公務,加重對其罰款B.不卑不亢,照章行事,該如何處理就如何處理C.對商店食品重新進行檢查,若確實違規(guī),則依法辦事,告訴他我也有自己的難處
58.你為單位作出了成就,可另一個同事去領功,領導表揚了他,你怎么處理?()。
A.領導表揚他,一定有領導的道理,也許是我不如他,只好下次努力了B.找合適的機會向領導陳述實情,不在領導和同事面前議論這位同事C.找這位同事進行溝通,講明他的作法非常不應該
59.上班的時候,往往有多件事需要你處理,你會如何安排?()。
A.按照時間先后進行辦理,分身乏術B.靈活處理,自己能處理好的就立即辦理,辦理不好的就請人幫忙
C.家有三件,緊要處著手。要先處理重要事件,其他依次統(tǒng)籌安排
60.你覺得應當怎樣表現(xiàn)自己?()。
A.多和大家善意溝通,投其所好B.多在公眾場合表現(xiàn)自己,將自己最好的一面展示出來C.努力工作,在合適的時機并不掩飾自己的優(yōu)點
61.如果某天你正在接一個非常緊急的工作電話,隔壁領導正在開會,突然間要求你過去匯報一個問題,此時你會()。
A.跟對方道歉,然后掛斷電話,先去匯報工作B.請領導先等一下,打完電話再過去匯報工作C.將尷尬情況轉達給領導,請領導決定
62.某天你去菜市場買菜,恰好遇到領導的妻子也在買菜,她請你幫她將菜送到她家里,她要去接孩子放學,但你家里有客人正等著,此時,你會這樣認為()。
A.領導的事就是自己的事,要照顧好領導的生活,所以先將菜送往領導家B.家里的客人更重要,所以委婉地拒絕領導妻子的要求C.可以先幫領導妻子送菜回家,因為助人為樂是一種美德
63.如果一天你單位領導生病了,其他同事都買了很貴重的禮物去看望他,而你卻囊中羞澀,此時你會()。
A.借錢買同樣的禮物去看望,畢竟他是上級,應該尊敬他B.買一點便宜的禮物帶去,禮輕情義重C.不買禮物,但親自去看望,問候領導,給他精神上的鼓勵
64.假設你是辦公室的機要秘書,一位其他部門的領導過來拿一份不太重要的文件,但依照規(guī)定,他不能翻閱,此時你()。
A.告知該領導去辦理相關手續(xù),否則不能翻閱B.既然文件不太重要,就可以拿給領導看C.主動打電話問上級領導,請示該事如何處理
65.假如領導和你一起出國訪問,該領導心血來潮,要你陪他去賭場賭博,你會()。
A.跟著他去,輸贏無所謂,反正他掏錢B.勸諫領導莫入這些場所,盡力說服領導改變主意C.嚴詞拒絕,并記錄在案,以便回國后向上級匯報
66.假如領導需要一位貼身秘書,而你和你的一個非常要好的同事都想上任,此時你會()。
A.主動退出,朋友的友誼是非常重要的B.客觀地展示自我能力,不計較競爭者的親疏遠近C.勸導朋友成全自己,因為這個職位對自己非常重要
67.如果你正牽著你家的窗體底端寵物狗散步,忽然隔壁家領導的孩子拿彈弓打傷了你的狗,你會()。
A.忍氣吞聲,自認倒霉,自己掏錢為狗醫(yī)治B.直接去找領導,要求領導對孩子進行教育C.不計得失,先將小狗的傷醫(yī)好,再去以合適的口吻提醒領導注意孩子的安全,不讓其再傷及他人
68.倘若你正在看一份跟手頭工作相關的報紙,你的領導進來了,要看這份報紙,你會()。
A.借給領導,自己找其他材料B.委婉拒絕,畢竟手頭工作更重要C.請領導稍等一會,去找份別的報紙給領導
69.如果天降暴雨,但公司只有你自己帶了一把傘,你會()。
A.和同事一起用B.把傘藏起來,裝作自己也沒帶傘C.留給自己用
70.假如領導在開會期間,雖然要求別人關掉手機,但他老是自己出去接電話,大家很不滿意,作為他的秘書,你會()。
A.以委婉的方式暗示領導,應關掉手機,規(guī)則應該大家共同遵守B.不聞不問,領導應該享有自己一定的權威C.趁領導不在,勸大家忍耐,盡力維護領導的權威 公務員面試自我評估測試題評分參考
01.A
2分 B.3分C.1分
02.A
1分
B.1分C.3分
03.A
1分 B.2分C.3分
04.A
1分 B.2分C.3分
05.A
3分 B.2分C.1分
06.A
1分 B.2分C.3分
07.A
2分 B.1分C.3分
08.A
1分 B.2分C.3分
09.A 3分B.1分C.1分
10.A
1分B.2分C.3分
11.A
1分B.2分C.3分
12.A
1分B.2分C.3分
13.A
1分B.2分C.3分
14.A
1分B.1分C.3分
15.A
2分B.1分C.3分
16.A
1分B.3分C.2分
18.A
1分B.2分C.3分
19.A
1分B.3分C.1分
20.A
1分B.21.A
3分B.22.A
2分B.23.A
3分B.24.A
3分B.25.A
2分B.26.A
1分B.27.A
1分B.28.A
1分B.29.A
3分B.30.A
1分B.31.A
1分B.32.A
1分B.33.A
1分B.34.A
3分B.35.A
3分B.36.A
1分B.37.A 1分B.38.A
2分B.39.A
1分B.40.A
1分B.41.A
3分B.42.A
2分B.43.A
1分B.44.A
3分B.45.A
3分B.46.A
1分B.47.A
1分B.48.A
2分B.49.A
1分B.50.A
3分B.51.A
1分B.52.A
1分B.53.A
1分B.54.A
3分B.55.A
1分B.3分C.1分 2分C.1分 1分C.3分 2分C.1分 2分C.1分 1分C.3分 3分C.1分 1分C.3分 1分C.3分 1分C.1分 1分C.3分 2分C.3分 2分C.3分 2分C.3分 2分C.1分 1分C.2分 3分C.2分 2分C.3分
1分C.3分 2分C.3分 2分C.3分 1分C.2分 1分C.3分 3分C.1分 2分C.1分 1分C.2分 3分C.1分 3分C.1分 1分C.3分 3分C.1分 1分C.1分 3分C.1分 2分C.3分 3分C.1分 1分C.2分 3分C.2分
56.A
3分B.2分C.1分
57.A
1分B.3分C.2分
58.A
1分B.3分C.2分
59.A
1分B.2分C.3分
60.A
2分B.1分C.3分
61.A
2分B.3分C.1分
62.A
1分B.2分C.3分
63.A
1分B.3分C.2分
64.A
3分B.1分C.2分
65.A
1分B.3分C.1分
66.A
2分B.3分C.1分
67.A
1分B.2分C.3分
68.A
3分B.2分C.1分
69.A
3分B.2分C.1分
70.A
3分B.1分C.2分
說明:
1、此訓練題是根據(jù)公務員面試中可能遇到的問題編制的;
2、通過此訓練題可以鍛煉總結面試回答問題的能力;
3、此訓練題也用于心理測試,在公務面試中有些行業(yè)和單位要進行心理測試,心理測試的試卷模式與本樣題基本類似;
3、自評分數(shù)在180—210分之間說明你心理成熟,是面試高手,你一定能通過面試;自評分數(shù)在150—180分之間說明你心理較成熟,有一定的面試能力,基本上能通過面試,但在有關細節(jié)上要多加注意;自評分數(shù)在130—150分之間說明你心理成熟一般,有一般的面試能力,通過面試有一定的難度,要在回答技巧上多加注意;自評分數(shù)在100—130分之間說明你心理成熟程度較差,欠缺一定的面試能力,通過面試的可能性不大,要注意認真總結,加大復習的力度;自評分數(shù)在70—100分之間說明心理成熟程度很差,你欠缺的面試能力,不可能通過面試,要在提高綜合素質上下功夫。
第四篇:近代材料分析測試方法復習資料
近代材料分析測試方法復習資料2
1.電子顯微分析中,有哪幾種電子衍射,說明各自的操作特點和基本應用
答:1)電子顯微鏡中主要有SAED選區(qū)電子衍射、μ-衍射、納米衍射、CBED會聚束衍射、EBSD背散射電子衍射五種電子衍射。
2)操作特點:
①SAED選區(qū)電子衍射采用TEM模式,利用μ級平行入射電子束照射試樣,通過物鏡像平面處的選區(qū)光闌選取特定區(qū)域做電子衍射,得到與選擇區(qū)域對應的電子衍射花樣。②μ-衍射采用STEM模式,利用μ級針狀入射電子束照射試樣的固定區(qū)域,無需光闌選擇成像區(qū)域,因此不存在選區(qū)衍射誤差。③納米衍射與μ-衍射類似,主要差別在于納米衍射的入射電子束為納米級,體積更細小,因此能夠對試樣的更微小區(qū)域進行分析。④CBED會聚束衍射采用STEM模式,入射束由平行束變?yōu)殄F狀會聚束,并且后焦面處得到擴展的衍射斑點(圓盤狀),盤的大小與入射束的會聚角有關。因此伴隨著會聚角的變化,能夠獲得散射電子的信息,實驗過程中要避免透射盤與衍射盤相交。⑤EBSD背散射電子衍射是入射束打到試樣上形成的背散射電子發(fā)生衍射,形成衍射錐,最終獲得EBSD衍射花樣。
3)基本應用
①SAED選區(qū)電子衍射所選區(qū)域很小,因此能在晶粒十分細小的多晶體樣品內選取單個晶粒進行分析,從而研究為研究細小單晶體結構提供了有利條件。②μ-衍射和納米衍射對試樣微小區(qū)域進行分析,并且可以通過衍射斑點強度變化分析孿晶及變形。③CBED會聚束衍射可用于確定晶體的對稱性,試樣厚度和晶格畸變等。(會聚角、點陣常數(shù)、消光距離、晶體點群、柏氏矢量、偏離矢量)④EBSD背散射電子衍射可進行位相測定;晶界分析(特殊晶界、孿晶界、小角晶界、難腐蝕晶界等);變形分析(晶粒尺寸重構);物相鑒定;織構分析(定向生長機制)等。
2.在典型像分析中存在哪兩種過濾像,分別說明它們產生的基本原理及其應用。
答:1)成分過濾像和結構過濾像
2)基本原理
①成分過濾像是在EELS分析中,在成像模式下,選擇零損失范圍內的電子束進行電子衍射得到的。衍射過程中,采用不同頻率的波進行的衍射,即Δλ=0。
②結構過濾像是在高分辨分析中,靠F氏變換得到。高分辨的CCD像經過F氏變換在物鏡后焦面得到衍射花樣,選擇多束衍射束進行F氏變換從而得到結構過濾像。衍射波為同頻率波,即Δλ≠0。高分辨分析中,為了確定結構像,還需進行模擬計算。
3)基本應用
①成分過濾像能夠定性地分析材料內某一元素的分布情況。
②結構過濾像能夠分析高分辨像中原子或原子團的排列信息。
3.AES、XPS在進行元素分析時各有什么特點?
答:1)AES分析是原子在X-ray、載能電子、離子或中性粒子作用下,內層電子可能獲得足夠能量而電離,并留下空穴。此時原子處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài),當較外層的電子躍入內層空位時,原子多余能量可通過兩種方式釋放:一種是以X光子形式釋放出來;另一種引起另一外層電子電離,從而發(fā)射一個具有一定能量的電子,即俄歇電子。通過分析俄歇電子的動能及俄歇峰強來分析材料表面信息。
AES分析時在離子槍作用下,試樣表面被濺射剝離掉一層,并且試樣內部俄歇電子不能逃離出來,因此可分析試樣近表層信息;能夠分析試樣表面和界面上的少量輕元素。
2)XPS用單色X射線照射樣品,具有一定能量的入射光同樣品原子相互作用,光致電離產生光電子,這些光電子從產生之處輸運到表面,然后克服逸出功而發(fā)射出來。根據(jù)光電子動能可以確定試樣表面存在什么元素以及該元素所處的化學狀態(tài),從而進行定性分析;根據(jù)具有某種能量的光電子數(shù)量,便可知道某種元素在試樣表面的含量,從而進行定量分析。
XPS分析過程中對試樣不進行破壞,具有無損性特點。
4.直徑為0.5mm的金屬絲表層鍍附有異種金屬,鍍層厚度約200nm。研究鍍層的組織、結構、亞結構、同基體的結合界面的高分辨像,用什么方法制備試樣?寫出制備試樣的基本步驟。(試樣制備一節(jié)的思考題)
答:采用樹脂包埋制備法,主要步驟如下:
①將金屬絲均勻分散裝入φ3mm的銅管中,然后向銅管內灌入環(huán)氧樹脂;
②樹脂凝固后(一般經100-200℃烘干),用線鋸或慢速鋸切下0.5mm厚的圓片;
③用中、細砂紙把圓片減薄至50μm左右,再用刨坑機在圓片中心減薄至20μm以下;
④在離子減薄儀中對圓片中心減薄至出現(xiàn)針孔,放入電鏡觀察。
第五篇:2016《材料現(xiàn)代分析測試方法》復習題
《近代材料測試方法》復習題
1. 材料微觀結構和成分分析可以分為哪幾個層次?分別可以用什么方法分析?
答:化學成分分析、晶體結構分析和顯微結構分析
化學成分分析——常規(guī)方法(平均成分):濕化學法、光譜分析法
——先進方法(種類、濃度、價態(tài)、分布):X射線熒光光譜、電子探針、光電子能譜、俄歇電子能譜 晶體結構分析:X射線衍射、電子衍射
顯微結構分析:光學顯微鏡、透射電子顯微鏡、掃面電子顯微鏡、掃面隧道顯微鏡、原
子力顯微鏡、場離子顯微鏡
2. X射線與物質相互作用有哪些現(xiàn)象和規(guī)律?利用這些現(xiàn)象和規(guī)律可以進行哪些科學研究工作,有哪些實際應用?
答: 除貫穿部分的光束外,射線能量損失在與物質作用過程之中,基本上可以歸為兩大類:一部分可能變成次級或更高次的X射線,即所謂熒光X射線,同時,激發(fā)出光電子或俄歇電子。另一部分消耗在X射線的散射之中,包括相干散射和非相干散射。此外,它還能變成熱量逸出。
(1)現(xiàn)象/現(xiàn)象:散射X射線(想干、非相干)、熒光X射線、透射X射線、俄歇效
應、光電子、熱能
(2)①光電效應:當入射X射線光子能量等于某一閾值,可擊出原子內層電子,產 生光電效應。
應用:光電效應產生光電子,是X射線光電子能譜分析的技術基礎。光電效應
使原子產生空位后的退激發(fā)過程產生俄歇電子或X射線熒光輻射是 X射線激發(fā)俄歇能譜分析和X射線熒光分析方法的技術基礎。
②二次特征輻射(X射線熒光輻射):當高能X射線光子擊出被照射物質原子的 內層電子后,較外層電子填其空位而產生了次生特征X射線(稱二次特征輻射)。
應用:X射線被物質散射時,產生兩種現(xiàn)象:相干散射和非相干散射。相干散射
是X射線衍射分析方法的基礎。
3. 電子與物質相互作用有哪些現(xiàn)象和規(guī)律?利用這些現(xiàn)象和規(guī)律可以進行哪些科學研究工作,有哪些實際應用?
答:當電子束入射到固體樣品時,入射電子和樣品物質將發(fā)生強烈的相互作用,發(fā)生彈性散射和非彈性散射。伴隨著散射過程,相互作用的區(qū)域中將產生多種與樣品性質有關的物理信息。
(1)現(xiàn)象/規(guī)律:二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、特征X射
線
(2)獲得不同的顯微圖像或有關試樣化學成分和電子結構的譜學信息 4. 光電效應、熒光輻射、特征輻射、俄歇效應,熒光產率與俄歇電子產率。特征X射線產生機理。
光電效應:當入射X射線光子能量等于某一閾值,可擊出原子內層電子,產生光電效應。熒光輻射:被打掉了內層電子的受激原子,將發(fā)生外層電子向內層躍遷的過程,同時輻射出
波長嚴格一定的特征X射線。這種利用X射線激發(fā)而產生的特征輻射為二次特
征輻射,也稱為熒光輻射。特征輻射:
俄歇效應:原子K層電子被擊出,L層電子向K層躍遷,其能量差被鄰近電子或較外層電
子所吸收,使之受激發(fā)而成為自由電子。這種過程就是俄歇效應,這個自由電子
就稱為俄歇電子。
熒光產率:激發(fā)態(tài)分子中通過發(fā)射熒光而回到基態(tài)的分子占全部激發(fā)態(tài)分子的分數(shù)。
俄歇電子產率:
5. 拉曼光譜分析的基本原理及應用。什么斯托克斯線和反斯托克斯線?什么是拉曼位移?(振動能級)
原理:光照射到物質上發(fā)生彈性散射和非彈性散射.彈性散射的散射光是與激發(fā)光波長相同的成分,非彈性散射的散射光有比激發(fā)光波長長的和短的成分, 統(tǒng)稱為拉曼效應。
應用:拉曼光譜對研究物質的骨架特征特別有效。紅外和拉曼分析法結合,可更完整地研究分子的振動和轉動能級,從而更可靠地鑒定分子結構。可以進行半導體、陶瓷等無機材料的分析。是合成高分子、生物大分子分析的重要手段。在燃燒物和大氣污染物分析等方面有重要應用。有兩種情況:
(1)分子處于基態(tài)振動能級,與光子碰撞后,從光子中獲取能量達到較高的能級。若與此相應的躍遷能級有關的頻率是ν1,那么分子從低能級躍到高能級從入射光中得到的能量為hν1,而散射光子的能量要降低到hν0-hν1,頻率降低為ν0-ν1。
(2)分子處于振動的激發(fā)態(tài)上,并且在與光子相碰時可以把hν1的能量傳給光子,形成一條能量為hν0+hν1和頻率為ν0+ν1的譜線。
通常把低于入射光頻的散射線ν0-ν1稱為斯托克斯線。高于入射光頻的散射線ν0+ν1稱為反斯托克斯線。
6. X射線熒光光譜定性、定量分析的基本原理及應用(適用),什么是基本體吸收效應?如何消除? 定性分析: 在譜儀上配上計算機,可以直接給出試樣內所有元素的名稱。
1、確定某元素的存在,除要找到易識別的某一強線外,最好找出另一條強度高的線條,以免誤認。
2、區(qū)分哪些射線是從試樣內激發(fā)的,那哪射線是靶給出的,靶還可能有雜質,也會發(fā)出X射線。
3、當X射線照射到輕元素上時,由于康普頓效應,還會出現(xiàn)非相干散射??赏ㄟ^相應的實驗將它們識別。
定量分析:如果沒有影響射線強度的因素,試樣內元素發(fā)出的熒光射線的強度與該元素在試樣內的原子分數(shù)成正比。但是實際上存在影響熒光X射線強度的因素,這些因素叫做基體吸收效應和增強效應。
元素A的熒光X射線強度不但與元素A的含量有關,還與試樣內其他元素的種類和含量有關。當A元素的特征x射線能量高于B元素的吸收限(或相反)時,則A元素的特征X射線也可以激發(fā)B元素,于是產生兩種影響,其中A元素的特征x熒光照射量率削弱的為吸收效應。吸收包括兩部分:一次X射線進入試樣時所受的吸收和熒光X射線從試樣射出時所受的吸收。
實驗校正法:外標法、內標法、散射線標準法,增量法 數(shù)學校正法:經驗系數(shù)法、基本參數(shù)法
7. 波譜儀與能譜儀的展譜原理及特點。(特征X射線檢測)
波譜儀:利用X射線的波長不同來展譜。1)能量分辨率高——突出的優(yōu)點,分辨率為5eV 2)峰背比高:這使WDS所能檢測的元素的最低濃度是EDS的1/10,大約可檢測100 ppm。3)采集效率低,分析速度慢。
4)由于經晶體衍射后,X射線強度損失很大,其檢測效率低。
5)波譜儀難以在低束流和低激發(fā)強度下使用,因此其空間分辨率低且難與高分辨率的電鏡(冷場場發(fā)射電鏡等)配合使用。能譜儀:利用X射線的能量不同來展譜。優(yōu)點:
1)分析速度快:同時接收和檢測所有信號,在幾分鐘內分析所有元素。
2)靈敏度高:收集立體角大,不用聚焦,探頭可靠近試樣,不經衍射,強度沒有損失??稍诘褪鳎?0-11 A)條件下工作,有利于提高空間分辨率。
3)譜線重復性好:沒有運動部件,穩(wěn)定性好,沒有聚焦要求,所以譜線峰值位置的重復性好且不存在失焦問題,適合于比較粗糙表面的分析。缺點:
1)能量分辨率低:在130 eV左右,比WDS的5eV低得多,譜線的重疊現(xiàn)象嚴重。2)峰背比低:探頭直接對著樣品,在強度提高的同時,背底也相應提高。EDS所能檢測的元素的最低濃度是WDS的十倍,最低大約是1000 ppm。
3)工作條件要求嚴格:探頭必須保持在液氦冷卻的低溫狀態(tài),即使是在不工作時也不能中斷,否則導致探頭功能下降甚至失效。
8. XPS的分析原理是什么?(什么效應)
光電效應:在外界光的作用下,物體(主要指固體)中的原子吸收光子的能量,使其某一層的電子擺脫其所受的束縛,在物體中運動,直到這些電子到達表面。如果能量足夠、方向合適,便可離開物體的表面而逸出,成為光電子。光電子動能為:Ec =hv-EB-(-w)
9. XPS的應用及特點,XPS中的化學位移有什么用?
分析表面化學元素的組成、化學態(tài)及其分布,特別是原子的價態(tài)、表面原子的電子密度、能級結構。
最大特點是可以獲得豐富的化學信息,它對樣品的損傷是最輕微的,定量也是最好的。它的缺點是由于X射線不易聚焦,因而照射面積大,不適于微區(qū)分析。
(1)可以分析除H和He以外的所有元素,可以直接得到電子能級結構的信息。(2)它提供有關化學鍵方面的信息,即直接測量價層電子及內層電子軌道能級,而相鄰元素的同種能級的譜線相隔較遠,互相干擾少,元素定性的標志性強。
(3)是一種無損分析。
(4)是一種高靈敏超微量表面分析技術。分析所需試樣約10-8g即可,絕對靈敏度高達10-18g,樣品分析深度約2 nm。
由于原子處于不同的化學環(huán)境里而引起的結合能位移稱為化學位移。化學位移的量值與價電子所處氧化態(tài)的程度和數(shù)目有關。氧化態(tài)愈高,則化學位移愈大。
10. 紫外光電子能譜原理及應用。(激發(fā)什么電子?)
紫外光電子能譜儀與X射線光電子能譜儀非常相似,只需把激發(fā)源變換一下即可。真空紫外光源只能激發(fā)樣品中原子、分子的外層價電子或固體的價帶電子。測量固體表面價電子和價帶分布、氣體分子與固體表面的吸附、以及化合物的化學鍵、研究振動結構。
11. 俄歇電子能譜分析的原理、應用及特點。(俄歇電子與什么有關?)
原理:俄歇效應。俄歇電子的能量與參與俄歇過程的三個能級能量有關。能量是特定的,與入射X射線波長無關,僅與產生俄歇效應的物質的元素種類有關。應用:可以做物體表面的化學分析、表面吸附分析、斷面的成分分析。1)材料表面偏析、表面雜質分布、晶界元素分析; 2)金屬、半導體、復合材料等界面研究; 3)薄膜、多層膜生長機理的研究;
4)表面化學過程(如腐蝕、鈍化、催化、晶間腐蝕、氫脆、氧化等)研究; 5)集成電路摻雜的三維微區(qū)分析; 6)固體表面吸附、清潔度、沾染物鑒定等。特點:
1)作為固體表面分析法,其信息深度取決于俄歇電子逸出深度(電子平均自由程)。對于能量為50eV-2keV范圍內的俄歇電子,逸出深度為0.4-2nm,深度分辨率約為l nm,,橫向分辨率取決于入射束斑大小。
2)可分析除H、He以外的各種元素。
3)對于輕元素C、O、N、S、P等有較高的分析靈敏度。4)可進行成分的深度剖析或薄膜及界面分析。
12. 掃描隧道顯微鏡基本原理及特點、工作模式。(量子隧道效應,如何掃描?恒高、恒電流工作模式,隧道譜應用)
基本原理:尖銳金屬探針在樣品表面掃描,利用針尖-樣品間納米間隙的量子隧道效應引起隧道電流與間隙大小呈指數(shù)關系,獲得原子級樣品表面形貌特征圖象。
量子隧道效應:當微觀粒子的總能量小于勢壘高度時,該粒子仍能穿越這一勢壘。金屬探針安置在三個相互垂直的壓電陶瓷(Px、Py、Pz)架上,當在壓電陶瓷器件上施加一定電壓時,由于壓電陶瓷器件產生變形,便可驅動針尖在樣品表面實現(xiàn)三維掃描;
隧道譜應用:可對樣品表面顯微圖像作逐點分析,以獲得表面原子的電子結構(電子態(tài))等信息。在樣品表面選一定點,并固定針尖與樣品間的距離,連續(xù)改變偏壓值從負幾V~正幾V,同時測量隧道電流,便可獲得隧道電流隨偏壓的變化曲線,即掃描隧道譜。特點:
1)STM結構簡單。
2)其實驗可在多種環(huán)境中進行:如大氣、超高真空或液體(包括在絕緣液體和電解液中)。3)工作溫度范圍較寬,可在mK到1100K范圍內變化。這是目前任何一種顯微技術都不能同時做到的。
4)分辨率高,掃描隧道顯微鏡在水平和垂直分辨率可以分別達到0.1nm和0.01nm。因此可直接觀察到材料表面的單個原子和原子在材料表面上的三維結構圖像。
5)在觀測材料表面結構的同時,可得到材料表面的掃描隧道譜(STS),從而可以研究材料表面化學結構和電子狀態(tài)。
6)不能探測深層信息,無法直接觀察絕緣體。工作模式:
恒電流模式:掃描時,在偏壓不變的情況下,始終保持隧道電流恒定。適于觀察表面起伏較大的樣品。
恒高模式:始終控制針尖在樣品表面某一水平高度上掃描,隨樣品表面高低起伏,隧道電流不斷變化。適于觀察表面起伏不大的樣品。
13. 原子力顯微鏡工作原理、成像模式及應用。(微小力測量如何實現(xiàn)?納米量級力學性能測量)
原理:利用微小探針與待測物之間交互作用力,來呈現(xiàn)待測物表面的物理特性。成像模式:
應用:已成為表面科學研究的重要手段。(1)幾十到幾百納米尺度的結構特征研究(2)原子分辨率下的結構特征研究(3)在液體環(huán)境下成像對材料進行研究
(4)測量、分析表面納米級力學性能(吸附力、彈性、塑性、硬度、粘著力、摩擦力等):通過測量微懸臂自由端在針尖接近和離開樣品過程中的變形(偏轉),對應一系列針尖不同位置和微懸臂形變量作圖而得到力曲線。當針尖被壓入表面時,那點曲線斜率可以決定材料的彈性模量,從力曲線上也能很好的反映出所測樣品的彈性、塑性等性質。(5)實現(xiàn)對樣品表面納米加工與改性
14. 什么是離子探針?離子探針的特點及應用。
離子探針微區(qū)分析儀,簡稱離子探針。
離子探針的原理是利用細小的高能(能量為1~20keV)離子束照射在樣品表面,激發(fā)出正、負離子(二次離子);利用質譜儀對這些離子進行分析,測量離子的質荷比(m/e)和強度,確定固體表面所含元素的種類及其含量。特點:
1)可作同位素分析。
2)可對幾個原子層深度的極薄表層進行成分分析。利用離子束濺射逐層剝離,得到三維的成分信息。
3)一次離子束斑直徑縮小至微米量級時,可拍攝特定二次離子的掃描圖像。并可探測極微量元素(50ppm)。
4)可高靈敏度地分析包括氫、鋰在內的輕元素,特別是可分析氫。
15. 場離子顯微鏡的成像原理(臺階邊緣的原子)。
1)隧道效應:若氣體原子的外層電子能態(tài)符合樣品中原子的空能級能態(tài),該電子將有較高的幾率通過“隧道效應”而穿過表面位壘進入樣品,從而使成像氣體原子變?yōu)檎x子——場致電離。
2)導體表面電場與其曲率成正比:E≈U/5r,相同的電壓加上相同的導體,曲率越大,也就是越尖,導體上的電荷越密集,產生的電場越強。
3)場離化原理:當成像氣體進入容器后,受到自身動能的驅使會有一部分達到陽極附近,在極高的電位梯度作用下氣體原子發(fā)生極化,使中性原子的正、負電荷中心分離而成為一個電偶極子。
16. DTA的基本原理,DTA在材料研究中有什么用處?(定量?比熱?)
基本原理:當試樣發(fā)生任何物理或化學變化時,所釋放或吸收的熱量使樣品溫度高于或低于參比物的溫度,從而相應地在差熱曲線上得到放熱或吸熱峰; 應用:
1)如果試樣在升溫過程中熱容有變化,則基線ΔTa就要移動,因此從DTA曲線便可知比熱發(fā)生急劇變化的溫度,這個方法被用于測定玻璃化轉變溫度; 2)合金狀態(tài)變化的臨界點及固態(tài)相變點都可用差熱分析法測定; 3)可以定量分析玻璃和陶瓷相態(tài)結構的變化; 4)被廣泛地用于包括非晶在內的固體相變動力學研究; 5)可以用于研究凝膠材料燒結進程;
17. DSC的基本原理及應用。(縱坐標是什么?)
差示掃描量熱法(DSC)基本原理:根據(jù)測量方法的不同,有兩種DSC法,即功率補償式差示量熱法和熱流式差示量熱法。功率補償式差示量熱法:
1)試樣和參比物具有獨立的加熱器和傳感器,儀器由兩條控制電路進行監(jiān)控,一條控制溫度,使樣品和參比物在預定的速率下升溫或降溫;另一條用于補償樣品和參比物之間所產生的溫差,通過功率補償電路使樣品與參比物的溫度保持相同;
2)功率補償放大器自動調節(jié)補償加熱絲的電流,使試樣與參比物的溫度始終維持相同; 3)只要記錄試樣放熱速度隨T(或t)的變化,就可獲得DSC曲線??v坐標代表試樣放熱或吸熱的速度,橫坐標是溫度T(或時間t)。
應用:1)樣品焓變的測定;2)樣品比熱的測定;3)研究合金的有序-無序轉變
18. 影響DTA和DSC曲線形態(tài)的因素主要有哪些?(加熱速度,樣品比熱,氣氛)
影響DTA(差熱分析)曲線形態(tài)的因素:實驗條件、儀器因素、試樣因素等; 實驗條件:
① 升溫速率:程序升溫速率主要影響DTA曲線的峰位和峰形,升溫速率越大,峰位越向高溫方向遷移以及峰形越陡;
②不同性質的氣氛如氧化性、還原性和惰性氣氛對DTA曲線的影響很大,有些場合可能會得到截然不同的結果;
③ 參比物:參比物與樣品在用量、裝填、密度、粒度、比熱及熱傳導等方面應盡可能相近,否則可能出現(xiàn)基線偏移、彎曲,甚至造成緩慢變化的假峰。
影響DSC(量熱分析)曲線形態(tài)的因素:實驗條件、儀器因素、試樣因素等; 實驗條件:
① 升溫速率:一般升溫速率越大,峰溫越高、峰形越大和越尖銳,而基線漂移大,因而一般采用10℃/min;
② 氣氛對DSC定量分析中峰溫和熱焓值的影響是很大的。
③ 參比物:參比物的影響與DTA相同。
19. 熱重分析應用?
1)主要研究在空氣中或惰性氣體中材料的熱穩(wěn)定性、熱分解作用和氧化降解等化學變化; 2)還廣泛用于研究涉及質量變化的所有物理過程,如測定水分、揮發(fā)物和殘渣,吸附、吸收和解吸,氣化速度和氣化熱,升華速度和升華熱;
3)可以研究固相反應,縮聚聚合物的固化程度,有填料的聚合物或共混物的組成; 4)以及利用特征熱譜圖作鑒定等。
20. 什么是穆斯堡爾效應?穆斯堡爾譜的應用。(橫坐標?低溫?)
無反沖核γ射線發(fā)射和共振吸收現(xiàn)象稱為穆斯堡爾效應:若要產生穆斯堡爾效應,反沖能量ER最好趨向于零;大多數(shù)核只有在低溫下才能有明顯的穆斯堡爾效應; 應用:
1)可用于測定礦石、合金和廢物中的總含鐵量和總含錫量; 2)可用于研究碳鋼淬火組織、淬火鋼的回火、固溶體分解;
3)可以用于判斷各種磁性化合物結構的有效手段(可用于測定反鐵磁性的奈爾點、居里點和其它各種類型的磁轉變臨界點;也可用于測定易磁化軸,研究磁性材料中的非磁性相);4)可用于研究包括紅血蛋白、肌紅蛋白、氧化酶、過氧化酶、鐵氧還原蛋白和細胞色素等范圍極廣的含鐵蛋白質的結構和反應機理研究。
21. 產生衍射的必要條件(布拉格方程)及充分條件。(衍射角由什么決定?幾何關系)
必要條件: 1)滿足布拉格方程 2dsi?n?n?
2)能夠被晶體衍射的X射線的波長必須小于或等于參加反射的衍射面中最大面間距的二倍;
??2d
充分條件:
1)衍射角:由晶胞形狀和大小確定
22. 影響衍射強度的因素。
1)晶胞中原子的種類、數(shù)量和位置; 2)晶體結構、晶粒大小、晶粒數(shù)目; 3)試樣對X射線的吸收; 4)衍射晶面的數(shù)目; 5)衍射線的位置; 6)溫度因子;
23. 物相定性分析、定量分析的原理。(強度與什么有關?正比含量嗎?如何校正基體吸收系數(shù)變化對強度的影響?)
物相定性分析:每種結晶物質都有其特定的結構參數(shù),包括點陣類型、單胞大小、單胞中原子(離子或分子)的數(shù)目及其位置等等,而這些參數(shù)在X射線衍射花樣中均有所反映;某種物質的多晶體衍射線條的數(shù)目、位置以及強度,是該種物質的特征,因而可以成為鑒別物相的標志。
物相定量分析原理:各相衍射線的強度,隨該相含量的增加而提高;由于試樣對X射線的吸收,使得“強度”并不正比于“含量”,而須加以修正。
1)采用單線條法(外標法):混合樣中j相某線與純j相同一根線強度之比,等于j相的重量百分數(shù);
2)采用內標法:將一種標準物摻入待測樣中作為內標,并事先繪制定標曲線。3)采用K值法及參比強度法:它與傳統(tǒng)的內標法相比,不用繪制定標曲線;
4)采用直接對比法:不向樣品中加入任何物質而直接利用樣品中各相的強度比值實現(xiàn)物相定量的方法。
24. 晶粒大小與X射線衍射線條寬度的關系。
K?
Bcos?德拜-謝樂公式: D?D為晶粒垂直于晶面方向的平均厚度、B為實測樣品衍射峰半高寬度、θ為衍射角、γ為X射線波長
晶粒的細化能夠引起X射線衍射線條的寬化; 25. 內應力的分類及在衍射圖譜上的反映。
第一類:在物體較大范圍(宏觀體積)內存在并平衡的內應力,此類應力的釋放,會使物體的宏觀體積或形狀發(fā)生變化。第一類內應力又稱“宏觀應力”或“殘余應力”。宏觀應力使衍射線條位移。
第二類:在數(shù)個晶粒范圍內存在并平衡的內應力,一般能使衍射線條變寬,但有時亦會引起線條位移。
第三類:在若干個原子范圍內存在并平衡的內應力,如各種晶體缺陷(空位、間隙原子、位錯等)周圍的應力場、點陣畸變等,此類應力的存在使衍射強度降低。
26. 掃描電鏡二次電子像與背散射電子像。(應用及特點)
1.二次電子像(SEI):
1)特點:圖像分辨率比較高;二次電子信號強度與原子序數(shù)沒有明確的關系,僅對微區(qū)刻面相對于入射電子束的角度十分敏感;二次電子能量較低,其運動軌跡極易受電場和磁場的作用從而發(fā)生改變,不易形成陰影;二次電子信號特別適用于顯示形貌襯度,用于斷口檢測和各種材料表面形貌特征觀察;SE本身對原子序數(shù)不敏感,但其產額隨(BSE產額)增大而略有上升;SE能反映出表面薄層中的成分變化;通常的SE像就是形貌襯度像
應用:SE研究樣品表面形貌最有用的工具;SE也可以對磁性材料和半導體材料進行相關的研究
2.背散射電子像(BSEI):
1)特點:樣品表面平均原子序數(shù)大的微區(qū),背散射電子強度較高,而吸收電子強度較低,形成成分襯度;樣品表面不同的傾斜角會引起B(yǎng)SE數(shù)量的不同,樣品表面的形貌對其也有一定的影響;傾角一定,高度突變,背散射電子發(fā)射的數(shù)量也會改變;背散射電子能量高,離開樣品后沿直線軌跡運動;樣品表面各個微區(qū)相對于探測器的方位不同,使收集到的背散射電子數(shù)目不同;檢測到的信號強度遠低于二次電子,粗糙表面的原子序數(shù)襯度往往被形貌襯度所掩蓋。
應用:背散射電子像襯度應用最廣泛的是成分襯度像,與SE形貌像(或BSE形貌相)相配合,可以方便地獲得元素和成分不同的組成相分布狀態(tài)。
27. 掃描電鏡圖像襯度(形貌襯度、原子序數(shù)襯度)。(產額)
1)表面形貌襯度;電子束在試樣上掃描時任何兩點的形貌差別表現(xiàn)為信號強度的差別,從而在圖像中顯示形貌襯度。SE形貌襯度像的一大特點是極富立體感。原理:利用對試樣表面形貌變化敏感的物理信號作為顯像管的調制信號,可以得到形貌襯度圖像。
應用:二次電子和背散射電子信號強度是試樣表面傾角的函數(shù),均可用形成樣品表面形貌襯度。
SE的產額隨樣品各部位傾斜角θ(電子束入射角)的不同而變化
2)原子序數(shù)襯度:原子序數(shù)襯度是試樣表面物質原子序數(shù)(化學成分)差別而形成的襯度。原理:利用對試樣表面原子序數(shù)(或化學成分)變化敏感的物理信號作為顯像管的調制信號,可以得到原子序數(shù)襯度圖像。
應用:背散射電子像、吸收電子像的襯度都含有原子序數(shù)襯度,而特征X射線像的襯度就是原子序數(shù)襯度。
28. 什么是電子探針?電子探針的原理、特點及工作方式。(檢測的信號)
電子探針X射線顯微分析儀是一種微區(qū)成分分析的儀器。檢測的信號是特征X射線。利用電子束照射在樣品表面,激發(fā)出正、負離子(二次離子),用X射線分析器進行分析。特征X射線的波長(能量)——確定待測元素;特征X射線強度——確定元素的含量。