1．故障是指產(chǎn)品喪失了規(guī)定的功能，或產(chǎn)品的一個(gè)或幾個(gè)性能指標(biāo)超過(guò)了規(guī)定的范圍。它是產(chǎn)品的一種不合格狀態(tài)。

2．故障按其對(duì)功能的影響分為兩類：功能故障和潛在故障。

功能故障是指被考察的對(duì)象不能到達(dá)規(guī)定的性能指標(biāo)；潛在故障又稱作故障先兆，它是一種預(yù)示功能故障即將發(fā)生的可以鑒別的實(shí)際狀態(tài)或事件。

3．故障按其后果分四類：

平安性后果故障：采取預(yù)防維修的方式；使用性后果故障：對(duì)使用能力有直接的不利影響，通常是在預(yù)防維修的費(fèi)用低于故障的間接經(jīng)濟(jì)損失和直接修理費(fèi)用之和時(shí)，才采用預(yù)防維修方式；非使用性后果故障：對(duì)平安性及使用性均沒有直接的不利影響，只是使系統(tǒng)處于能工作但并非良好的狀態(tài)，只有當(dāng)預(yù)防維修費(fèi)用低于故障后的直接維修費(fèi)用時(shí)才進(jìn)行預(yù)防維修，否那么一般采用事后維修方式；隱患性后果故障：通常須做預(yù)定維修工作。

4．故障按其產(chǎn)生原因及故障特征分類可分為早期故障、偶然故障和損耗故障。偶然故障也稱隨機(jī)故障，它是產(chǎn)品由于偶然因素引起的故障。對(duì)于偶然故障，通常預(yù)定維修是無(wú)效的。耗損故障是由于產(chǎn)品的老化、磨損、腐蝕、疲勞等原因引起的故障。這種故障出現(xiàn)在產(chǎn)品可用壽命期的后期，故障率隨時(shí)間增長(zhǎng)，采用定期檢查和預(yù)先更換的方式是有效的。

5．故障模式或故障類型是故障發(fā)生時(shí)的具體表現(xiàn)形式。故障模式是由測(cè)試來(lái)判斷的，測(cè)試結(jié)果顯示的是故障特性。

6．故障機(jī)理是故障的內(nèi)因，故障特征是故障的現(xiàn)象，而環(huán)境應(yīng)力條件是故障的外因。

7．應(yīng)力-強(qiáng)度模型：當(dāng)施加在元件、材料上的應(yīng)力超過(guò)其耐受能力時(shí)，故障便發(fā)生。這是一種材料力學(xué)模型。

8．高可靠度狀態(tài)〔圖1.2-2〔a〕〕：應(yīng)力和強(qiáng)度分布的標(biāo)準(zhǔn)差很小，且強(qiáng)度均值比應(yīng)力均值高得多，平安余量Sm很大，所以可靠度很高。

圖1.2-2〔b〕所示為強(qiáng)度分布的標(biāo)準(zhǔn)差較大，應(yīng)力分布標(biāo)準(zhǔn)差較小的情況，采用高應(yīng)力篩選法，讓質(zhì)量差的產(chǎn)品出現(xiàn)故障，以使母體強(qiáng)度分布截去低強(qiáng)度范圍的一段，使強(qiáng)度與應(yīng)力密度曲線下重疊區(qū)域大大減小，余下的裝機(jī)件可靠度提高。

圖1.2-2〔c〕所示為強(qiáng)度分布標(biāo)準(zhǔn)差較小，但應(yīng)力分布標(biāo)準(zhǔn)差較大的情況，解決的方法最好是減小應(yīng)力分布的標(biāo)準(zhǔn)差，限制使用條件和環(huán)境影響或修改設(shè)計(jì)。

圖1.2-2

應(yīng)力、強(qiáng)度分布對(duì)可靠性的影響

9．反響論模型：

如果產(chǎn)品的故障是由于產(chǎn)品內(nèi)部某種物理、化學(xué)反響的持續(xù)進(jìn)行，直到它的某些參數(shù)變化超過(guò)了一定的臨界值，產(chǎn)品喪失規(guī)定功能或性能，這種故障就可以用反響論模型來(lái)描述。

串連式反響過(guò)程：總反響速度主要取決于反響最慢的那個(gè)過(guò)程的速度。

并聯(lián)式反響過(guò)程：總反響速度主要取決于反響最快的過(guò)程的速度。

10．最弱環(huán)模型〔串連模型〕：認(rèn)為產(chǎn)品或機(jī)件的故障〔或破壞〕是從缺陷最大因而也是最薄弱的部位產(chǎn)生

11．故障樹分析法簡(jiǎn)稱FTA法〔Fault

Tree

Analysis〕

故障樹分析法是一種將系統(tǒng)故障形成的原因由總體至局部按樹狀逐級(jí)細(xì)化的分析方法。

故障樹分析法將最不希望發(fā)生的故障事件作為頂事件，利用事件和邏輯門符號(hào)逐級(jí)分析故障形成原因。優(yōu)點(diǎn)：直觀、形象，靈活性強(qiáng)，通用性好；缺點(diǎn)：理論性強(qiáng)，邏輯嚴(yán)謹(jǐn)，建樹要求有經(jīng)驗(yàn)，建樹工作量大，易錯(cuò)漏。

12．頂事件和中間事件〔矩形〕

底事件〔圓形〕

開關(guān)事件〔房形〕

省略事件〔菱形〕

13．邏輯與門

邏輯或門

邏輯非門

異或門

表決門K/N門

表決門：僅當(dāng)n個(gè)輸入事件中有k個(gè)或k個(gè)以上發(fā)生時(shí)，輸出事件才發(fā)生。

14．建樹步驟

§頂事件選取原那么：

1)必須有確切的定義，不能含混不清、模棱兩可。

2)必須是能分解的，以便分析頂事件和底事件之間的關(guān)系。

3〕能被監(jiān)測(cè)或控制，以便對(duì)其進(jìn)行測(cè)量、定量分析，并采取措施防止其發(fā)生。

4〕最好有代表性。

15．〔1〕系統(tǒng)級(jí)邊界條件

頂事件及附加條件（系統(tǒng)初始狀態(tài)，不允許出現(xiàn)事件，不加考慮事件)

〔2〕部件級(jí)邊界條件

元部件狀態(tài)及概率，底事件是重要部件級(jí)邊界

利用邊界條件簡(jiǎn)化：

與門下有必不發(fā)生事件，其上至或門,那么或門下該分支可刪除；

與門下有必然發(fā)生事件,那么該事件可刪除;

或門下有必然發(fā)生事件，其上至與門,那么與門下該分支可刪除

或門下有必不發(fā)生事件，那么該事件可刪除

16．n個(gè)不同的獨(dú)立底事件組成的故障樹，有個(gè)可能狀態(tài)，故可有個(gè)狀態(tài)向量。

17．與門結(jié)構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)

18．或門結(jié)構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)

19．k/n門結(jié)構(gòu)故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)

20．底事件的相干性

假設(shè)對(duì)第i個(gè)底事件而言，至少存在一對(duì)狀態(tài)向量Y1i=(y1,y2,…yi-1,1,yi+1,…,yn)記作(1i,Y)和Y0i=(y1,y2,…yi-1,0,yi+1,…,yn)記作(0i,Y)，滿足Φ

(1i,Y)>

Φ

(0i,Y)，而對(duì)其它一切狀態(tài)向量而言，恒有Φ

(1i,X)

≥

Φ

(0i,X)成立，那么稱第i個(gè)底事件與頂事件相干。

如果找不到狀態(tài)向量滿足Φ

(1i,X)

Φ

(0i,X)，那么稱第i個(gè)底事件與頂事件不相干。

相干結(jié)構(gòu)函數(shù)：Φ(X)滿足：

故障樹中底事件與頂事件均相干；

Φ(X)對(duì)各底事件的狀態(tài)變量xi(i=1,2,…n)均為非減函數(shù)

21．相干結(jié)構(gòu)函數(shù)的性質(zhì)

〔1〕假設(shè)狀態(tài)向量X=(0,0,…0)，那么Φ(X)=0；

〔2〕假設(shè)狀態(tài)向量X=(1,1,…1)，那么Φ(X)=1；

〔3〕假設(shè)狀態(tài)向量X≥Y(即xi

≥yi,i=1,2,…n)，那么結(jié)構(gòu)函數(shù)Φ(X)

≥

Φ(Y)；

〔4〕假設(shè)Φ(X)

是由n個(gè)獨(dú)立底事件組成的任意結(jié)構(gòu)故障的相干結(jié)構(gòu)函數(shù)，那么有

即任意結(jié)構(gòu)故障樹，其結(jié)構(gòu)函數(shù)的上限為或門結(jié)構(gòu)故障樹結(jié)構(gòu)函數(shù)，而下限是與門結(jié)構(gòu)故障樹結(jié)構(gòu)函數(shù)。

22．假設(shè)狀態(tài)向量X能使結(jié)構(gòu)函數(shù)=1，那么稱此狀態(tài)向量為割向量。在割向量X中，取值為1的各分量對(duì)應(yīng)的狀態(tài)變量〔或底事件〕的集合，稱作割集。割集是導(dǎo)致頂事件發(fā)生的假設(shè)干底事件的集合。假設(shè)狀態(tài)向量X是割向量〔即=1〕，并對(duì)任意狀態(tài)向量Z而言，只要Z

23．假設(shè)狀態(tài)向量X能使結(jié)構(gòu)函數(shù)=0，那么稱此狀態(tài)向量X為路向量。在路向量X中，取值為0的各分量對(duì)應(yīng)的狀態(tài)變量〔或底事件〕的集合，稱作路集。路集是使系統(tǒng)不發(fā)生故障的正常元件的集合。假設(shè)狀態(tài)向量X是路向量〔即=0〕，并對(duì)任意狀態(tài)向量Z而言，只要Z>X，恒有=1成立，那么稱X為最小路向量，最小路向量X中取值為0的各分量對(duì)應(yīng)的底事件的集合，稱為最小路集。最小路集是使系統(tǒng)不發(fā)生故障的必要正常元件的集合。

24．用最小割集表示結(jié)構(gòu)函數(shù)：

25．用最小路集表示結(jié)構(gòu)函數(shù)：

26．掌握化相交和為不交和，求頂事件概率〔此法最簡(jiǎn)單易于理解，故采用之〕：

式中為故障樹的最小割集，將上式化成單獨(dú)項(xiàng)〔形如這種形式〕的邏輯和，將式中的用代替，用代替。這樣便可得到頂事件發(fā)生的概率為：

27．底事件的發(fā)生對(duì)頂事件發(fā)生的影響，稱作底事件的重要度。

l

概率結(jié)構(gòu)重要度：僅由單個(gè)底事件概率的變化而引起頂事件概率發(fā)生變化，那么頂事件概率對(duì)底事件概率的變化率稱作該底事件的概率結(jié)構(gòu)重要度，簡(jiǎn)稱概率重要度，記作。數(shù)學(xué)表達(dá)式為：

。上式可以看出概率重要度較大的底事件，其概率發(fā)生變化，那么對(duì)頂事件概率變化的影響是比擬大的。

l

結(jié)構(gòu)重要度：第i個(gè)底事件的結(jié)構(gòu)重要度定義為該底事件處于關(guān)鍵狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)與其處于正常狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)之比。當(dāng)系統(tǒng)由n個(gè)獨(dú)立元件組成時(shí)，那么可表示為：，為該底事件處于關(guān)鍵狀態(tài)的系統(tǒng)狀態(tài)數(shù)，可由下式表示：

所謂底事件的關(guān)鍵狀態(tài)是指該底事件狀態(tài)變量由0變?yōu)?時(shí)〔該元件由正常變故障〕，故障樹的結(jié)構(gòu)函數(shù)也由0變?yōu)?〔系統(tǒng)由正常變故障〕的狀態(tài)。

用以下原那么求結(jié)構(gòu)重要度，在概率重要度的根底上，令各底事件的概率均為1/2，那么所求結(jié)構(gòu)重要度與其底事件的概率重要度相同。

l

關(guān)鍵重要度：，由此可見，底事件的關(guān)鍵重要度是指頂事件概率相對(duì)變化量與引起此變化的底事件概率相對(duì)變化量之比的極限。

28．故障隔離手冊(cè)〔FIM〕和故障報(bào)告手冊(cè)使用同一的故障碼，該故障碼為8位數(shù)：左起前兩位為故障所在章號(hào)〔系統(tǒng)〕，3、4位為節(jié)號(hào)〔子系統(tǒng)〕，5、6位為工程號(hào)，7、8位表示故障件位置。

29．無(wú)空勤人員提供故障碼時(shí)的故障隔離程序

–

故障必然歸入下面四種情況之一：

有相應(yīng)的EICAS信息的故障；

有機(jī)內(nèi)自檢程序〔BITE〕的故障；

有適用的維修控制顯示板〔MCDP〕信息的故障；

以上信息全沒有的故障。

假設(shè)報(bào)告的問(wèn)題上述三種信息均有，那么故障分析順序?yàn)閮?yōu)先考慮執(zhí)行有EICAS信息的排故程序，其次是機(jī)內(nèi)自檢程序，最后是考慮執(zhí)行有MCDP信息的排故程序。

30．查找故障的典型概率法〔P75〕重點(diǎn)看，有計(jì)算。

概率法應(yīng)用的條件：故障是由某一元件故障引起；查找故障不會(huì)引入新故障。

概率法應(yīng)用的參數(shù)：

檢查次數(shù)〔一次檢查、平均檢查次數(shù)

檢查時(shí)間〔一次檢查時(shí)間ti、平均總檢查時(shí)間

檢查工作量(一次檢查工作量ti、平均總檢查工作量

檢查費(fèi)用〔一次檢查費(fèi)用Ci、平均總檢查費(fèi)用

適用范圍

–

逐件檢查系統(tǒng)

–

分組檢查系統(tǒng)

31．32．

分組檢查的方法：兩分法、等概率法、最小時(shí)間法。

u

兩分法：要點(diǎn)--符合機(jī)件數(shù)大致相等的要求；

最少檢查次數(shù)與最大檢查次數(shù)：

1)

假設(shè)系統(tǒng)由n個(gè)機(jī)件組成，滿足2m

n

2m+1〔m為正整數(shù)〕，那么系統(tǒng)最少檢查次數(shù)為m次，最大檢查次數(shù)為〔m+1〕次，平均檢查次數(shù)

Sm--第m次可查出故障的機(jī)件零件號(hào)組成的集合，同理。-零件號(hào)為j的機(jī)件故障的條件概率。

2〕

假設(shè)系統(tǒng)機(jī)件數(shù)恰好滿足n

=

2m，那么只需且必須經(jīng)過(guò)m次檢查，才能查出故障原因，平均檢查次數(shù)Nm

=

m

u

等概率法：要點(diǎn)--先把系統(tǒng)按每組各機(jī)件故障條件概率之和大致相等分成兩組，檢查故障條件概率之和較大的那組，確定故障件所在局部。再將存在故障件的那一組按每組各機(jī)件故障條件概率之和大致相等分成兩個(gè)分組，檢查故障條件概率之和較大的一組，確定故障原因所在。如此繼續(xù)下去，直至查出故障原因?yàn)橹埂?/p>

u

最小時(shí)間法：要點(diǎn)--每組各機(jī)件故障條件概率之和大致相等。

對(duì)各組計(jì)算檢查時(shí)間消耗率h，h

=

?

(bi/

ti)，選擇h較大的一組進(jìn)行檢查

33．信息量應(yīng)該是該信息出現(xiàn)概率的單調(diào)減函數(shù)

信息量＝，P——信息量出現(xiàn)的概率，信息量的單位是“比特(bit)〞

–

假設(shè)有n個(gè)信息同時(shí)出現(xiàn)，它們對(duì)故障診斷提供的信息量要比單一信息提供的信息量大

–

當(dāng)n個(gè)信息相應(yīng)的事件互相獨(dú)立時(shí)，n個(gè)信息共同出現(xiàn)時(shí)的信息量等于各個(gè)信息的信息量之和，即信息量具有可加性

34．現(xiàn)代信息論中，“熵〞是系統(tǒng)不確定程度的度量

假設(shè)系統(tǒng)A有n個(gè)狀態(tài)A1,A2,…,An，系統(tǒng)隨機(jī)處于相應(yīng)狀態(tài)的概率分別為P(A1),P(A2),…,P(An)，那么系統(tǒng)的熵定義為

35．復(fù)合系統(tǒng)的熵：設(shè)系統(tǒng)A有n個(gè)可能狀態(tài)，系統(tǒng)B有m個(gè)可能狀態(tài)

從而復(fù)合系統(tǒng)的熵為

A、B互相獨(dú)立：H(A+B)=H(A)+H(B)

A、B統(tǒng)計(jì)相關(guān)：

H(AB)=H(A)+H(B/A)=H(B)+H(A/B)

A條件下B的熵值：

36．定義系統(tǒng)B為判斷A所處的狀態(tài)提供的平均信息量為

也被稱為系統(tǒng)B包含有關(guān)系統(tǒng)A的平均信息量。

37．目視檢查是飛機(jī)結(jié)構(gòu)完整性檢查的最根本、最常用的檢查方法，也是保證飛行平安的重要手段之一。

當(dāng)蒙皮離開鉚釘頭并形成目視可見的明顯間隙，鉚釘周圍有黑圈，均說(shuō)明鉚釘已松動(dòng)。

鋁合金和鎂合金腐蝕初期成呈白色斑點(diǎn)，開展后出現(xiàn)灰白色腐蝕產(chǎn)物粉末。

不銹鋼的腐蝕往往是出現(xiàn)黑色的坑點(diǎn)。

38．氣密艙的密封檢查：流量法和壓力降法。流量法更適用于泄漏量較大而容積小的氣密艙。壓力降法設(shè)備簡(jiǎn)單，測(cè)法簡(jiǎn)單可靠。氣密艙和結(jié)構(gòu)油箱泄露包括可控制泄露和不可控制泄露。

影響密封艙結(jié)構(gòu)密封性的因素：

環(huán)狀縫隙影響因素；平面縫隙影響因素；加工與裝配質(zhì)量的影響。

39．渦流檢測(cè)的根本原理

檢測(cè)線圈通交流電，在線圈周圍產(chǎn)生交變的初級(jí)磁場(chǎng)，當(dāng)檢測(cè)線圈靠近被檢測(cè)的導(dǎo)電構(gòu)件時(shí)，在交變的初級(jí)磁場(chǎng)作用下，構(gòu)件中感生交變的電流——渦流。渦流在構(gòu)件中及其周圍產(chǎn)生一個(gè)附加的交變次級(jí)磁場(chǎng)，次級(jí)磁場(chǎng)又在線圈內(nèi)產(chǎn)生感應(yīng)電流，它的方向與原電流方向相同。當(dāng)構(gòu)件中產(chǎn)生裂紋或有其它缺陷，檢測(cè)線圈與其接近時(shí)，渦流發(fā)生畸變，影響次級(jí)磁場(chǎng)，進(jìn)而影響檢測(cè)線圈中的感應(yīng)電流，檢測(cè)線圈中的電流的變化，說(shuō)明構(gòu)件發(fā)生損傷。

40．渦流檢測(cè)分為高頻渦流檢測(cè)〔>50kHz〕和低頻渦流檢測(cè)。

趨膚效應(yīng)：渦流的磁場(chǎng)會(huì)引起交變電流趨向構(gòu)件外表，外表電流密度最大，隨著深度增加，電流密度減弱

41．渦流檢測(cè)法的適用范圍

Q

檢查導(dǎo)電構(gòu)件的疲勞損傷和腐蝕損傷。對(duì)鋁合金是首選的無(wú)損檢測(cè)方法

u

不適用非金屬構(gòu)件，如塑料、玻璃纖維復(fù)合材料等的損傷

Q

高頻渦流可檢測(cè)試件外表或近外表的損傷，而低頻渦流可檢測(cè)構(gòu)件隱蔽面或緊固件孔壁上的損傷

Q

對(duì)于鋼構(gòu)件一般不采用渦流檢測(cè)法探傷。

Q

不能檢測(cè)出平行于探測(cè)面的層狀裂紋。

Q

厚度小于1.5

mm的薄板材，板邊緣或緊固件孔邊的邊界效應(yīng)較大，給檢測(cè)帶來(lái)一定的困難

42．超聲波檢測(cè)法：高頻聲束〔頻率在20kHz以上〕射入被檢材料，經(jīng)過(guò)不同介質(zhì)分界面會(huì)發(fā)生反射，檢測(cè)者分析反射聲束信號(hào)，便可確定缺陷或損傷的存在及其位置。

超聲波的發(fā)射與接收是利用壓電材料的壓電效應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)的超聲波是一種波長(zhǎng)比光波長(zhǎng)，比普通電波短，頻率高于20kHz的機(jī)械波

43．縱波檢測(cè)法的適用范圍：

?

易檢測(cè)出與工件探測(cè)面走向平行的缺陷

?

受儀器盲區(qū)和分辨力的限制，外表和近外表檢測(cè)能力低

?

適用于檢測(cè)大面積的厚工件，定位簡(jiǎn)單

橫波檢測(cè)法的適用范圍：

?

可發(fā)現(xiàn)與工件外表成一定角度的缺陷或損傷

?

輔助縱波檢測(cè)，檢測(cè)垂直于探測(cè)面的缺陷或損傷。

應(yīng)用：可檢測(cè)金屬、非金屬、復(fù)合材料的內(nèi)部及外表缺陷〔裂紋損傷和腐蝕損傷〕，對(duì)平面缺陷十分敏感，只要聲束方向與裂紋面夾角到達(dá)一定要求，就可清晰地顯示出裂紋損傷

44．磁粉檢測(cè)的原理：〔通過(guò)檢測(cè)漏磁來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷〕

鐵磁試件被磁化后，假設(shè)試件存在外表或近外表缺陷，會(huì)使試件外表產(chǎn)生漏磁。鐵磁性工件中存在著許多小磁疇，磁化前，磁疇隨機(jī)取向，磁性抵消；被磁化時(shí)，磁疇規(guī)那么排列，呈現(xiàn)磁極。當(dāng)工件外表或近外表存在與磁化方向近于垂直的裂紋缺陷時(shí)，磁力線會(huì)彎曲，呈繞行趨勢(shì)，溢出外表的磁力線叫做缺陷漏磁。漏磁場(chǎng)強(qiáng)度取決于缺陷尺寸、方向和位置以及試件的磁化強(qiáng)度。漏磁場(chǎng)強(qiáng)度越大，缺陷部位越容易吸附磁粉，越能顯示出磁粉跡痕，觀察磁粉跡痕判斷缺陷所在。

l

周向磁化法：直接通電法、電極法、芯棒法

l

縱向磁化法：線圈法、電磁鐵法、感應(yīng)電流法

l

復(fù)合磁化法

適用于鐵磁性構(gòu)件外表或近外表缺陷〔或裂紋〕。主要檢測(cè)鍛鋼件及焊件，不適用于奧氏體不銹鋼〔非磁性材料〕。

注意：磁粉檢測(cè)后要對(duì)零件進(jìn)行退磁。

45．傳統(tǒng)的故障診斷方法包括邏輯診斷方法、統(tǒng)計(jì)診斷方法和模糊診斷方法。

46．邏輯診斷法師根據(jù)故障特性〔故障信息或征兆〕與故障狀態(tài)的邏輯關(guān)系，運(yùn)用推理的方式進(jìn)行故障診斷的方法。

有效決策規(guī)那么：將有效邏輯基中全部變?cè)踩≈禐椋薄郴蚰孀冊(cè)踩≈禐椋啊尺壿嫵?，再求邏輯和?/p>

有效決策主范式：從決策規(guī)那么出發(fā)，通過(guò)邏輯運(yùn)算，得到全部變?cè)蚰孀冊(cè)壿嫵说倪壿嫼停?/p>

概括邏輯診斷步驟:

1.確定考慮的因素,建立決策規(guī)那么;

2.建立有效決策規(guī)那么或有效決策主范式;

3.將給定元件狀態(tài)的元件變?cè)蚰孀冊(cè)M成征兆函數(shù),待定元件變?cè)蚰孀冊(cè)M成成因函數(shù),進(jìn)行狀態(tài)識(shí)別或故障診斷.注：此節(jié)求有效邏輯基，通過(guò)分析故障成因函數(shù)查找故障原因是重點(diǎn)。

47．統(tǒng)計(jì)診斷方法：

確定臨界值是重點(diǎn)。

根據(jù)對(duì)平均冒險(xiǎn)率的分析，提出以下四種確定臨界值的方法：

最小冒險(xiǎn)法、最小錯(cuò)誤診斷概率方法、極小極大法和紐曼-皮爾遜方法。

n

在滿足平均冒險(xiǎn)率最小的條件下，即使=時(shí)，確定臨界值的方法稱為最小冒險(xiǎn)方法。

n

當(dāng)==，==時(shí)，最小錯(cuò)誤診斷概率方法確定臨界值得條件和最小冒險(xiǎn)法完全相同。

n

在使平均冒險(xiǎn)率取極大的同時(shí)，使平均冒險(xiǎn)率取極小，這樣確定臨界值的方法稱為極小極大法。

n

紐曼-皮爾遜方法：要正確地估計(jì)錯(cuò)誤診斷的代價(jià)往往是十分困難的，為此往往采用使某種診斷錯(cuò)誤概率降低到最小的原那么。

例題：根據(jù)滑油中含鐵量監(jiān)測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)機(jī)匣的工作狀態(tài)。設(shè)由統(tǒng)計(jì)資料得到：在正常狀態(tài)下含鐵量的均值〔1p.p.m=1毫克/升〕，在異常狀態(tài)下含鐵量的均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差為；含鐵量為正態(tài)分布，并發(fā)動(dòng)機(jī)處于正常狀態(tài)的概率為=0.8。試用最小錯(cuò)誤診斷概率法：

〔1〕詳細(xì)推導(dǎo)確定臨界值的公式

〔2〕計(jì)算臨界值x0

48．模糊診斷方法〔重點(diǎn)看該書最后兩頁(yè)〕：

設(shè)分別表示m種故障成因，它們是征兆群空間X〔論域U〕上的m個(gè)模糊子集，為相應(yīng)的m個(gè)模糊子集的隸屬函數(shù)。對(duì)U中的任一元素，如果，那么判斷隸屬于模糊子集，這就是最大隸屬原那么。

隸屬函數(shù)計(jì)算式：其中〔i=1，……，n〕表示第i個(gè)征兆出現(xiàn)的狀態(tài)，征兆出現(xiàn)取1，不出現(xiàn)取0，是權(quán)系數(shù)，即診斷矩陣中第i行，第j列的元素。根據(jù)最大隸屬度原那么判斷故障成因，從而判斷故障成因。

編者注：考試題型：選擇〔10〕、填空〔10〕、簡(jiǎn)答〔20〕、計(jì)算〔60〕.本材料僅供參考。預(yù)祝大家考個(gè)好成績(jī)，謝謝！